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佛克脱线型HeⅠ1 083．0nm共振线逃逸几率的计算
1
作者
张庆国
贺健
《河南科技大学学报（自然科学版）》
CAS
2008年第4期94-97,共4页
基于精确佛克脱线型的表达式,对于平板几何体和柱形几何体,计算了组成HeⅠ1083.0nm共振线1083.034nm,1083.025nm和1082.908nm三条线的逃逸几率,同时计算了吸收原子在基态的原子数密度,分析了逃逸因子对谱线中心光学深度的影响。理论分...
基于精确佛克脱线型的表达式,对于平板几何体和柱形几何体,计算了组成HeⅠ1083.0nm共振线1083.034nm,1083.025nm和1082.908nm三条线的逃逸几率,同时计算了吸收原子在基态的原子数密度,分析了逃逸因子对谱线中心光学深度的影响。理论分析和实验结果相一致,此计算对于探测太阳或其它天体中氦的浓度具有一定参考意义。
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关键词
氦辐射线
逃逸几率
佛克脱线型
光学深度
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职称材料
粒子在二维开放型四分之一圆形微腔中的逃逸研究
2
作者
刘声
王德华
《原子与分子物理学报》
CAS
CSCD
北大核心
2014年第4期664-671,共8页
利用半经典理论对粒子在开放型四分之一圆形微腔中的逃逸过程进行了研究,推导出了逃逸几率密度的计算公式.我们研究了一簇从四分之一圆形微腔的左下方的入口出射、并从该微腔右边界逃逸的粒子轨迹.对于粒子的每一条逃逸轨迹,记录下它的...
利用半经典理论对粒子在开放型四分之一圆形微腔中的逃逸过程进行了研究,推导出了逃逸几率密度的计算公式.我们研究了一簇从四分之一圆形微腔的左下方的入口出射、并从该微腔右边界逃逸的粒子轨迹.对于粒子的每一条逃逸轨迹,记录下它的传播时间和逃逸的位置.结果发现逃逸时间图随着逃逸点的位置的变化曲线呈现出振荡结构.随着碰撞次数的增加,逃逸点的位置越靠近该腔的右顶端.对一系列的探测点,找到从源点出发到达探测点的轨迹,然后应用半经典理论来构造波函数,进而给出逃逸几率密度的计算公式.研究结果标明,逃逸几率密度与探测平面上逃逸点的位置、粒子的动量、初始出射角及与微腔的碰撞次数有关.为了更清楚的看出量子力学和经典力学之间的联系,我们对体系的半经典波函数进行傅里叶变换,给出了粒子的路径长度谱.路径长度谱的每个峰值对应于一条粒子逃逸轨迹的长度.本文的研究对理解量子力学和经典力学之间的联系以及研究粒子在微腔中的的逃逸和输运过程有一定的参考价值.
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关键词
逃逸几率
微腔
半经典理论
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职称材料
题名
佛克脱线型HeⅠ1 083．0nm共振线逃逸几率的计算
1
作者
张庆国
贺健
机构
南科技大学理学院
出处
《河南科技大学学报（自然科学版）》
CAS
2008年第4期94-97,共4页
基金
河南科技大学青年科学研究基金(2007QN028)
河南省教育厅自然科学研究计划项目(2008B140005)
文摘
基于精确佛克脱线型的表达式,对于平板几何体和柱形几何体,计算了组成HeⅠ1083.0nm共振线1083.034nm,1083.025nm和1082.908nm三条线的逃逸几率,同时计算了吸收原子在基态的原子数密度,分析了逃逸因子对谱线中心光学深度的影响。理论分析和实验结果相一致,此计算对于探测太阳或其它天体中氦的浓度具有一定参考意义。
关键词
氦辐射线
逃逸几率
佛克脱线型
光学深度
Keywords
He emission line
Escape probabilities
Voigt profile
Optical depth
分类号
O562.3 [理学—原子与分子物理]
在线阅读
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职称材料
题名
粒子在二维开放型四分之一圆形微腔中的逃逸研究
2
作者
刘声
王德华
机构
鲁东大学物理与光电工程学院
出处
《原子与分子物理学报》
CAS
CSCD
北大核心
2014年第4期664-671,共8页
基金
国家自然科学基金(11074104
11374133)
山东省高等学校科技计划项目(J13LJ04)
文摘
利用半经典理论对粒子在开放型四分之一圆形微腔中的逃逸过程进行了研究,推导出了逃逸几率密度的计算公式.我们研究了一簇从四分之一圆形微腔的左下方的入口出射、并从该微腔右边界逃逸的粒子轨迹.对于粒子的每一条逃逸轨迹,记录下它的传播时间和逃逸的位置.结果发现逃逸时间图随着逃逸点的位置的变化曲线呈现出振荡结构.随着碰撞次数的增加,逃逸点的位置越靠近该腔的右顶端.对一系列的探测点,找到从源点出发到达探测点的轨迹,然后应用半经典理论来构造波函数,进而给出逃逸几率密度的计算公式.研究结果标明,逃逸几率密度与探测平面上逃逸点的位置、粒子的动量、初始出射角及与微腔的碰撞次数有关.为了更清楚的看出量子力学和经典力学之间的联系,我们对体系的半经典波函数进行傅里叶变换,给出了粒子的路径长度谱.路径长度谱的每个峰值对应于一条粒子逃逸轨迹的长度.本文的研究对理解量子力学和经典力学之间的联系以及研究粒子在微腔中的的逃逸和输运过程有一定的参考价值.
关键词
逃逸几率
微腔
半经典理论
Keywords
Escape probability density
Cavity
Seimiclassical theory
分类号
O4 [理学—物理]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
佛克脱线型HeⅠ1 083．0nm共振线逃逸几率的计算
张庆国
贺健
《河南科技大学学报（自然科学版）》
CAS
2008
0
在线阅读
下载PDF
职称材料
2
粒子在二维开放型四分之一圆形微腔中的逃逸研究
刘声
王德华
《原子与分子物理学报》
CAS
CSCD
北大核心
2014
0
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职称材料
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