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摩擦Mura机理和设计改善方法
被引量：
1
1
作者
高荣荣
刘俊豪
+4 位作者
周保全
汪剑成
张周生
左爱翠
陈维诚
《液晶与显示》
CAS
CSCD
北大核心
2019年第6期570-575,共6页
摩擦Mura是ADS型TFT-LCD中一种常见不良,本文主要对摩擦过程中固定位置的Mura进行理论研究和实验测试。摩擦Mura产生原因是TFT基板上的源极线附近的摩擦弱区漏光。从产品设计方面找出影响这种固定位置的摩擦Mura的主要因子为ITO材质、...
摩擦Mura是ADS型TFT-LCD中一种常见不良,本文主要对摩擦过程中固定位置的Mura进行理论研究和实验测试。摩擦Mura产生原因是TFT基板上的源极线附近的摩擦弱区漏光。从产品设计方面找出影响这种固定位置的摩擦Mura的主要因子为ITO材质、段差、过孔密度。ITO材质为金属材质,摩擦时对摩擦布损伤较大,摩擦方向上ITO越长对摩擦布损伤越大,摩擦Mura越明显。设计时需要尽力保证摩擦方向上ITO长度一致。段差会导致摩擦布经过高低不同区域时产生损伤,设计时需要尽力保证摩擦方向上段差一致。过孔是密度影响,孔径直径(5μm)<摩擦布毛直径(11μm),密度越小则摩擦Mura越轻。以15.0FHD产品为例,对周边电路设计位置ITO材质/源极线/过孔密度等膜层进行设计优化,摩擦Mura发生率从5%降至0%,改善效果明显。
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关键词
摩擦Mura
设计因素
ITO
段差(漏极线)
过孔密度
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职称材料
题名
摩擦Mura机理和设计改善方法
被引量：
1
1
作者
高荣荣
刘俊豪
周保全
汪剑成
张周生
左爱翠
陈维诚
机构
合肥京东方光电科技有限公司Cell分厂
出处
《液晶与显示》
CAS
CSCD
北大核心
2019年第6期570-575,共6页
文摘
摩擦Mura是ADS型TFT-LCD中一种常见不良,本文主要对摩擦过程中固定位置的Mura进行理论研究和实验测试。摩擦Mura产生原因是TFT基板上的源极线附近的摩擦弱区漏光。从产品设计方面找出影响这种固定位置的摩擦Mura的主要因子为ITO材质、段差、过孔密度。ITO材质为金属材质,摩擦时对摩擦布损伤较大,摩擦方向上ITO越长对摩擦布损伤越大,摩擦Mura越明显。设计时需要尽力保证摩擦方向上ITO长度一致。段差会导致摩擦布经过高低不同区域时产生损伤,设计时需要尽力保证摩擦方向上段差一致。过孔是密度影响,孔径直径(5μm)<摩擦布毛直径(11μm),密度越小则摩擦Mura越轻。以15.0FHD产品为例,对周边电路设计位置ITO材质/源极线/过孔密度等膜层进行设计优化,摩擦Mura发生率从5%降至0%,改善效果明显。
关键词
摩擦Mura
设计因素
ITO
段差(漏极线)
过孔密度
Keywords
Rubbing Mura
design influence
ITO
height(source data)
via -hole density
分类号
TN141.9 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
摩擦Mura机理和设计改善方法
高荣荣
刘俊豪
周保全
汪剑成
张周生
左爱翠
陈维诚
《液晶与显示》
CAS
CSCD
北大核心
2019
1
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