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边缘扫描测试研究
1
作者
潘中良
陈光
《系统工程与电子技术》
EI
CSCD
1996年第2期9-14,共6页
边缘扫描测试是对大规模集成电路（ＶＬＳＩ）进行测试的一种新的基于可测性设计的测试技术，能极大地降低ＶＬＳＩ测试生成的复杂性，在电路设计与测试领域，近年来得到广泛关注。本文讨论了这种测试技术的产生背景，实现方法，及与常...
边缘扫描测试是对大规模集成电路（ＶＬＳＩ）进行测试的一种新的基于可测性设计的测试技术，能极大地降低ＶＬＳＩ测试生成的复杂性，在电路设计与测试领域，近年来得到广泛关注。本文讨论了这种测试技术的产生背景，实现方法，及与常规方法相比存在的优势，并就其今后的发展将解决的问题作了研究。
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关键词
集成电路
测试
边缘扫描测试
VLSI
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职称材料
CPLD及边缘扫描测试技术在电动车组辅助系统中的应用研究
2
作者
房晓杰
《计算机应用与软件》
CSCD
北大核心
2003年第3期74-76,共3页
本文研究了CPLD、VHDL及边缘扫描测试技术,以在电力机车辅助系统中的应用为例,取代传统的继电器有触点控制电路,简化了电路设计、生产及调试,提高了系统可靠性。
关键词
CPLD
边缘扫描测试
技术
电动车组辅助系统
应用
VHDL
BSDL
可编程逻辑器件
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职称材料
题名
边缘扫描测试研究
1
作者
潘中良
陈光
机构
成都电子科技大学自动化系
出处
《系统工程与电子技术》
EI
CSCD
1996年第2期9-14,共6页
基金
国家"八五"攻关基金
文摘
边缘扫描测试是对大规模集成电路（ＶＬＳＩ）进行测试的一种新的基于可测性设计的测试技术，能极大地降低ＶＬＳＩ测试生成的复杂性，在电路设计与测试领域，近年来得到广泛关注。本文讨论了这种测试技术的产生背景，实现方法，及与常规方法相比存在的优势，并就其今后的发展将解决的问题作了研究。
关键词
集成电路
测试
边缘扫描测试
VLSI
Keywords
Integrated circuit, Design for testability, Computer aided test, Boundary scan testing.
分类号
TN470.7 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
CPLD及边缘扫描测试技术在电动车组辅助系统中的应用研究
2
作者
房晓杰
机构
同济大学电气工程系
出处
《计算机应用与软件》
CSCD
北大核心
2003年第3期74-76,共3页
文摘
本文研究了CPLD、VHDL及边缘扫描测试技术,以在电力机车辅助系统中的应用为例,取代传统的继电器有触点控制电路,简化了电路设计、生产及调试,提高了系统可靠性。
关键词
CPLD
边缘扫描测试
技术
电动车组辅助系统
应用
VHDL
BSDL
可编程逻辑器件
Keywords
CPLD VHDL BSDL Boundary scan technology
分类号
U266.2 [机械工程—车辆工程]
TP332.1 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
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1
边缘扫描测试研究
潘中良
陈光
《系统工程与电子技术》
EI
CSCD
1996
0
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职称材料
2
CPLD及边缘扫描测试技术在电动车组辅助系统中的应用研究
房晓杰
《计算机应用与软件》
CSCD
北大核心
2003
0
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