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边界扫描测试结构完备性诊断策略 被引量:1
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作者 王宁 李桂祥 杨江平 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2003年第9期22-24,43,共4页
边界扫描结构完备性测试是在其他任何测试之前建议首先进行的测试操作,以确保边界扫描结构能正常工作。本文在分析了边界扫描结构故障类型与测试原理之后提出了一种完备性诊断策略,并给出了具体实现过程。
关键词 边界扫描测试结构 完备性 诊断策略 VLSI 超大规模集成
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VLSI边界扫描测试故障诊断及其策略研究 被引量:2
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作者 倪军 杨建宁 +1 位作者 成立 徐丽红 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2006年第8期583-587,共5页
介绍了支持JTAG标准的IC芯片结构和故障测试的4-wire串行总线,以及运用边界扫描故障诊断的原理。实验中分析了IC故障类型、一般故障诊断流程和进行扫描链本身完整性测试的方案,并提出了一种外加测试码向量生成的算法。该故障诊断策略通... 介绍了支持JTAG标准的IC芯片结构和故障测试的4-wire串行总线,以及运用边界扫描故障诊断的原理。实验中分析了IC故障类型、一般故障诊断流程和进行扫描链本身完整性测试的方案,并提出了一种外加测试码向量生成的算法。该故障诊断策略通过两块xc9572pc84芯片互连PCB板的实现方法进行验证,体现了该策略对于芯片故障定位准确、测试效率高、控制逻辑简便易行的优越性。 展开更多
关键词 JTAG标准 边界扫描结构 测试总线 故障诊断 可测性设计
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数字IC边界扫描互连故障诊断新方法
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作者 周晓霞 倪军 +2 位作者 成立 植万江 王振宇 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2008年第12期1100-1104,共5页
介绍了支持JTAG标准的数字集成电路(IC)芯片结构、故障测试模式和运用边界扫描故障测试的原理。实验中分析了数字IC互连故障类型、一般故障诊断流程和互连故障的测试方法,提出了采用无误判抗混淆算法的IC边界扫描互连故障诊断法。通过两... 介绍了支持JTAG标准的数字集成电路(IC)芯片结构、故障测试模式和运用边界扫描故障测试的原理。实验中分析了数字IC互连故障类型、一般故障诊断流程和互连故障的测试方法,提出了采用无误判抗混淆算法的IC边界扫描互连故障诊断法。通过两块Xilinx 9572 pc84芯片互连电路板进行了实验验证,结果表明,该方法对板级互连故障测试具有定位准确、检测效率高、可靠性高及易于实现的技术优势。 展开更多
关键词 JTAG标准 边界扫描结构 互连故障诊断 无误判抗混淆算法
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