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基于输入向量控制和传输门插入的电路NBTI老化缓解
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作者 胡林聪 易茂祥 +3 位作者 丁力 朱炯 刘小红 梁华国 《合肥工业大学学报(自然科学版)》 CAS 北大核心 2018年第1期55-59,75,共6页
针对现有方案通过输入向量控制(input vector control,IVC)结合门替换(gate replacement,GR)技术缓解负偏置温度不稳定性(negative bias temperature instability,NBTI)引起的电路老化,存在GR应用可能破坏IVC抗老化效果的问题,文章提出... 针对现有方案通过输入向量控制(input vector control,IVC)结合门替换(gate replacement,GR)技术缓解负偏置温度不稳定性(negative bias temperature instability,NBTI)引起的电路老化,存在GR应用可能破坏IVC抗老化效果的问题,文章提出了一种基于IVC和传输门(transmission gate,TG)插入的抗NBTI老化方案。将目标电路切分为多个逻辑锥子电路,然后对各子电路进行动态回溯得到其最优输入控制向量,在恢复各子电路的连接时,通过插入TG消除连线位置出现的逻辑冲突,最后得到由子电路合并后的目标电路的最优输入控制向量。采用相同条件的实验结果表明,与现有方案相比,本文方案提高了电路平均时延退化改善率超过1倍,且面积开销和电路固有时延也明显降低,更好地缓解了电路老化效应。 展开更多
关键词 负偏置温度不稳定性(NBTI) 老化 输入向量控制(ivc) 传输门(TG)插入 回溯
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基于RF-GA-SVM算法的施工升降机输入电压控制模型 被引量:5
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作者 郗涛 徐伟雄 +1 位作者 高宗帅 王莉静 《天津工业大学学报》 CAS 北大核心 2022年第2期60-66,共7页
针对在超高层建筑施工中施工升降机的驱动电机输入电压受多因素影响,导致其调节困难、能耗严重的问题,提出一种基于数据挖掘的RF-GA-SVM输入电压控制方法。首先,在实现控制电压多因素分析的基础上,基于随机森林(random forests,RF)算法... 针对在超高层建筑施工中施工升降机的驱动电机输入电压受多因素影响,导致其调节困难、能耗严重的问题,提出一种基于数据挖掘的RF-GA-SVM输入电压控制方法。首先,在实现控制电压多因素分析的基础上,基于随机森林(random forests,RF)算法进行了影响因素的重要度计算,确定各因素的影响权重值和样本约简集合,并通过ROC(接收者操作特征)曲线和AUC(ROC曲线下的面积)分析验证属性约简集的分类准确率;其次,采用基于遗传算法(genetic algorithm,GA)优化的支持向量机(support vector machine,SVM)算法,构建施工升降机输入电压控制模型;最后,利用施工升降机远程监控平台采集历史数据,对本研究提出的RF-GA-SVM输入电压控制模型进行训练和验证。实例验证结果表明:该模型检测样本的均方根误差(RMSE)为1.493,平均绝对误差(MAE)为0.899,平均绝对百分比误差(MAPE)为0.291%,决定系数(R2)为0.98,说明本方法可以有效选取影响因素,并根据影响因素和实际需求实现施工升降机输入电压的有效控制。 展开更多
关键词 施工升降机 随机森林算法 遗传算法 支持向量 输入电压 控制模型
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折叠控制器的低功耗改进设计 被引量:1
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作者 陈卫兵 刘文艳 《电子质量》 2005年第2期7-9,共3页
文章提出了一种硬件开销小的降低测试功耗的折叠控制器设计方案,该设计方案在原有折叠控制器的基础上只需对其中的折叠索引计数器进行改进设计,从而得到伪单输入跳变的测试向量集,达到降低待测电路功耗的目的。
关键词 低功耗 电路功耗 测试向量 开销 折叠 跳变 控制器设计 硬件 索引 输入
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最小漏电向量的高效搜索算法研究
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作者 薛巨琴 范东溟 《黑龙江科技信息》 2008年第18期45-45,共1页
随着芯片工艺技术的发展,漏电逐渐成为功耗的主要部分,特别是当一个电路频繁进入空闲状态的时候。输入向量控制(IVC)技术可以有效地减少漏电功耗。基于这种技术,我们提出三种快速搜索最小漏电向量的方法。
关键词 低功耗 输入向量控制 漏电功耗 最小漏电向量
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基于循环向量协同优化电路的NBTI效应和泄漏功耗
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作者 石奇琛 张嘉洋 《电子科技》 2019年第6期74-77,共4页
当晶体管的特征尺寸减小到45nm时,电路的可靠性已经成为影响系统设计一个关键性因素。负偏压温度不稳定性(NBTI)和泄露功耗引起的电路可靠性现象的主要原因,导致关键门的老化加重,关键路径延迟增加,最终使得芯片失效,影响系统的正常工... 当晶体管的特征尺寸减小到45nm时,电路的可靠性已经成为影响系统设计一个关键性因素。负偏压温度不稳定性(NBTI)和泄露功耗引起的电路可靠性现象的主要原因,导致关键门的老化加重,关键路径延迟增加,最终使得芯片失效,影响系统的正常工作。为了缓解NBTI效应和泄露功耗对电路可靠性的影响,延长电路的使用寿命,文中提出了循环向量方法进行协同优化。在ISCAS85基准电路,利用本方法协同优化实验,NBTI效应平均延迟相对改善了10%,泄漏功耗平均降低了15%,证明了循环向量方法的可行性。 展开更多
关键词 模型电路可靠性 老化效应 负偏压温度不稳定性 输入向量控制 泄露功耗
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