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内建自测试中移位器的设计及其应用(英文)
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作者 毛武晋 王澍 +1 位作者 杨军 许舸夫 《电子器件》 CAS 2002年第4期444-447,共4页
本文提出了一种新的方法和综合技术用来去除多扫描链内建测试中由线形反馈移位寄存器引起的测试向量线性关联性。利用本方法可以高效的设计内建自测试中移位器并且保证足够扫描链间的位移和每条扫描通道尽少量的门数开销。
关键词 内建自测试 移位 转置线形反馈移位寄存器 扫描链
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