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智能转动参数测试仪
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作者 杨志文 丁玉波 《仪表技术与传感器》 CSCD 北大核心 1989年第4期29-33,共5页
本文主要介绍了用MCS—51单片机构成的智能转动参数测试仪的原理、硬件和软件。该测试仪的功能多,它不仅能测转速,还可测线速度、线长度等,有广泛的推广和应用价值。
关键词 速度测量仪表 转动参数测量 单片机
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