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多模式多时钟域芯片的物理设计方法 被引量:2
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作者 覃晓莹 郑湘南 +1 位作者 王政集 粟涛 《中山大学学报(自然科学版)》 CAS CSCD 北大核心 2015年第3期14-18,25,共6页
为了降低测试成本和难度,提高质量和成品率,量产芯片一般包含存储器内建自测试(MBIST)模式和扫描链测试(Scan Chain Test)模式。另一方面,随着芯片集成的功能不断增多,设计时一般会采用多个不同时钟。针对这种情况,本文提出了一种通过... 为了降低测试成本和难度,提高质量和成品率,量产芯片一般包含存储器内建自测试(MBIST)模式和扫描链测试(Scan Chain Test)模式。另一方面,随着芯片集成的功能不断增多,设计时一般会采用多个不同时钟。针对这种情况,本文提出了一种通过改变时序约束,实现此类芯片多模式归一化的物理设计方法,称为混合模式(Mix-mode)。把该方法运用到一款基于130 nm工艺的视频后处理专用芯片上,采用Synopsys IC Compiler(ICC)工具进行布局布线。结果表明,与采用ICC工具提供的多模式(Multi-Mode)设计方法相比,采用该方法完成的物理版图在工具运行时间、时序、功耗、面积、总线长等方面都有更好的结果。 展开更多
关键词 多模式 时钟 跨时钟路径 物理设计
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