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1
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超大规模集成电路的板级测试研究 |
李志威
潘中良
叶小敏
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《重庆理工大学学报（自然科学）》
CAS
北大核心
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2019 |
3
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2
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超大规模集成电路内装测试生成模式新方法 |
徐秀兰
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《计算机研究与发展》
EI
CSCD
北大核心
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1993 |
0 |
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3
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大规模数字集成电路标准矩阵功能测试新方法 |
徐拾义
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《计算机工程与科学》
CSCD
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2005 |
2
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4
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高效率集成电路测试芯片设计方法 |
胡龙跃
史峥
刘得金
邵康鹏
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《计算机工程与应用》
CSCD
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2013 |
2
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5
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集成电路设计、验证、测试系统的研究 |
林争辉
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《上海交通大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
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1995 |
1
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6
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征稿通知 第15届国际专用集成电路会议 |
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《半导体技术》
CAS
北大核心
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2023 |
0 |
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7
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数字VLSI电路测试技术-BIST方案 |
高平
成立
王振宇
祝俊
史宜巧
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《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
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2003 |
15
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8
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一种新的LSI/VLSI电路测试方法 |
高建华
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《中国纺织大学学报》
CSCD
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1995 |
0 |
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9
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VLSI电路可测性设计技术及其应用综述 |
成立
王振宇
高平
祝俊
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《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
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2004 |
26
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10
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基于IDDQ测试的VLSI门内电阻式桥接故障仿真 |
许爱强
唐小峰
牛双诚
杨智勇
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《北京工业大学学报》
CAS
CSCD
北大核心
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2016 |
2
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11
|
一种在VLSI电路物理设计中减小串扰的优化算法 |
张徐亮
赵梅
范明钰
李春辉
虞厥邦
黄劲
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《计算机辅助设计与图形学学报》
EI
CSCD
北大核心
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2001 |
2
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12
|
基于遗传算法的VLSI电路划分方法 |
王小港
吴福炜
李铁
姚林声
甘骏人
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《计算机工程》
CAS
CSCD
北大核心
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2002 |
2
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13
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蚂蚁算法在时序电路测试生成中的应用研究 |
许川佩
李智
莫玮
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《仪器仪表学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
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2005 |
4
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14
|
VLSI并行测试生成系统的一种动态层次框架 |
刘蓬侠
曾芷德
李思昆
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《计算机工程与科学》
CSCD
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2001 |
2
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15
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VLSI芯片的可测试性、可调试性、可制造性和可维护性设计 |
沈理
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《计算机工程与科学》
CSCD
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2003 |
6
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16
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用于亚微米模拟VLSI中的实用串级电流镜电路 |
成立
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《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
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1998 |
2
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17
|
数字电路多加权集随机测试生成方法 |
谢永乐
陈光■
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《计算机辅助设计与图形学学报》
EI
CSCD
北大核心
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2002 |
2
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18
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组合电路随机测试的一种新方法 |
徐拾义
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《计算机工程与科学》
CSCD
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2002 |
1
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19
|
VLSI功能测试的最佳测试序列的选取 |
曾成碧
陈光
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《电子科技大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
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2000 |
0 |
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20
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新型VLSI直流参数自动测试系统 |
马秀莹
刘明亮
高剑
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《电子测量技术》
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2005 |
2
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