期刊文献+
共找到3篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
聚合物多层微流控芯片超声波键合界面温度研究 被引量:2
1
作者 罗怡 何盛强 王晓东 《材料科学与工艺》 EI CAS CSCD 北大核心 2012年第1期88-92,共5页
针对聚合物多层微流控芯片键合,采用热辅助超声波键合方法实现了4层微流控芯片的键合,搭建了多界面温度测试装置,采用埋置热电偶的方法测试了三个被封接界面的温度场,研究了单独超声波作用和热辅助超声波键合法中各界面的温度并进行了比... 针对聚合物多层微流控芯片键合,采用热辅助超声波键合方法实现了4层微流控芯片的键合,搭建了多界面温度测试装置,采用埋置热电偶的方法测试了三个被封接界面的温度场,研究了单独超声波作用和热辅助超声波键合法中各界面的温度并进行了比对.温度测试实验结果表明,在顶层热辅助温度70℃、6μm振幅、30kHz频率、100N超声波焊接压力和25s超声波作用时间下,基于热辅助的多层超声波键合方法可以使各键合界面的温度基本一致,从而实现多层微流控器件的多个界面键合质量一致.本文的研究为聚合物微流控器件的超声波多层键合机理研究提供了有益借鉴. 展开更多
关键词 多层微流控芯片 辅助超声 界面温度
在线阅读 下载PDF
全金属间化合物微焊点的制备及性能表征研究进展 被引量:4
2
作者 施权 张志杰 +3 位作者 高幸 魏红 周旭 耿遥祥 《中国有色金属学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2023年第4期1129-1143,共15页
基于微凸点和硅通孔的3D封装是一种通过多层芯片垂直互连堆叠,将芯片技术与封装技术进行结合的新技术,满足了电子产品微型化、高性能的发展需求,是实现下一代超大规模集成微系统的核心互连技术。3D封装技术对互连焊点有一个特殊的要求,... 基于微凸点和硅通孔的3D封装是一种通过多层芯片垂直互连堆叠,将芯片技术与封装技术进行结合的新技术,满足了电子产品微型化、高性能的发展需求,是实现下一代超大规模集成微系统的核心互连技术。3D封装技术对互连焊点有一个特殊的要求,即在向上堆叠芯片时,低级封装的焊点不应被重新熔化。低温下制备全金属间化合物(Intermetallic compound, IMC)微焊点为实现叠层芯片互连提供了新的解决方案。本文对近年来全IMC微焊点的制备工艺和基本原理进行综合分析;揭示Cu-Sn系统界面反应的扩散机制及IMC生长动力学规律;对比不同键合参数下全IMC微焊点的服役可靠性。最后,指出各种全IMC微焊点制备工艺的优缺点,并对其未来研究发展趋势进行展望。 展开更多
关键词 全金属间化物微焊点 瞬态液相 温度梯度 电流驱动 超声辅助瞬时液相键合 瞬态液相烧结
在线阅读 下载PDF
CuZnAl记忆颗粒对黄铜/锡/黄铜焊点组织与性能影响
3
作者 张亮 刘志权 +2 位作者 郭永环 杨帆 钟素娟 《焊接学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2018年第12期53-57,131,共6页
研究了不同压力条件下(0.2 N,50 N)瞬时液相键合0.5%亚微米CuZnAl记忆颗粒对黄铜/锡/黄铜焊点组织和性能影响.发现0.5%亚微米CuZnAl记忆颗粒对界面组织有一定的抑制作用,主要归因于亚微米颗粒的存在减小了元素之间的扩散速率.另外相对0.... 研究了不同压力条件下(0.2 N,50 N)瞬时液相键合0.5%亚微米CuZnAl记忆颗粒对黄铜/锡/黄铜焊点组织和性能影响.发现0.5%亚微米CuZnAl记忆颗粒对界面组织有一定的抑制作用,主要归因于亚微米颗粒的存在减小了元素之间的扩散速率.另外相对0.2 N压力条件下,50 N压力下由于元素剧烈扩散易于使界面出现大量的空洞,而0.2 N压力界面组织则较为均匀,并且未出现明显的空洞.力学性能结果表明,添加0.5%亚微米CuZnAl记忆颗粒,焊点的剪切力提高20%~25%.在0.2 N压力、250℃保温10 min,随后200℃保温1 100 h可以将黄铜/锡-CuZnAl/黄铜焊点完全转化为金属间化合物,并未发现明显的空洞. 展开更多
关键词 瞬时液相 剪切力 压力 金属间化
在线阅读 下载PDF
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部