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基于超声回波相位导数谱测量CFRP表面富树脂层厚度
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作者 马志远 宋鑫民 +2 位作者 张天旭 郝旭峰 林莉 《航空制造技术》 北大核心 2025年第9期20-26,共7页
针对碳纤维增强复合材料(Carbon Fiber Reinforced Polymer,CFRP)表面富树脂层厚度薄、涂层与基体声学参数相近、叠层多界面等引起的传统超声测厚方法精度低的难题,提出了一种基于超声回波相位导数谱(Ultrasonic echo phase derivative ... 针对碳纤维增强复合材料(Carbon Fiber Reinforced Polymer,CFRP)表面富树脂层厚度薄、涂层与基体声学参数相近、叠层多界面等引起的传统超声测厚方法精度低的难题,提出了一种基于超声回波相位导数谱(Ultrasonic echo phase derivative spectrum,UEPDS)谐振频率测量CFRP表面富树脂层厚度的新方法。基于超声波在多层结构中的透射与反射规律,构建出耦合介质/涂层/基体三介质二界面结构的UEPDS,并辨识UEPDS的谐振频率与涂层厚度之间的理论关系,以克服传统采用声压反射系数幅度谱或相位谱测厚时精度受基准波、信号初始相位等影响大的问题,结合标定声速,即可准确测定涂层厚度。试验使用超声C扫描系统结合标称频率25 MHz探头对厚度在数十~100μm变化的富树脂层进行测厚,并与激光共聚焦显微镜观测厚度进行对比验证。结果表明,25 MHz探头可有效实现厚度≥40.7μm的富树脂层测厚,超声测厚云图与金相观测厚度之间绝对误差≤5.1μm,相对误差<8.0%。研究发现影响测厚准确率的主要因素为富树脂层/基体界面存在的起伏状编织间隙残留树脂。 展开更多
关键词 超声检测 超声回波相位导数(uepds) 谐振频率 富树脂层 测厚
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