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通道效应在透射电镜样品厚度估测中的应用
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作者 李月亮 朱静 《电子显微学报》 CAS CSCD 2014年第6期487-494,共8页
通道效应是出射波函数的样品厚度周期效应。像差校正高分辨像中像点强度随样品厚度的变化正是这种效应的直接体现。本文提出了利用通道效应估测样品厚度的方法,通过多片层法高分辨像模拟,研究了元素种类、离焦量、像散以及带轴偏离等参... 通道效应是出射波函数的样品厚度周期效应。像差校正高分辨像中像点强度随样品厚度的变化正是这种效应的直接体现。本文提出了利用通道效应估测样品厚度的方法,通过多片层法高分辨像模拟,研究了元素种类、离焦量、像散以及带轴偏离等参量对于厚度估测的影响,并以钛酸钡陶瓷样品为实例,对厚度进行了估测。 展开更多
关键词 通道效应 像点强度 负球差成像 样品厚度估测 多片层法像模拟
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像差校正高分辨透射电子显微术及其在表征功能氧化物材料结构及界面中的应用
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作者 米少波 贾春林 《中国材料进展》 CAS CSCD 北大核心 2017年第7期566-574,共9页
简要介绍基于像差校正高分辨透射电子显微镜的负球差成像技术及其在研究功能氧化物材料原子构型中的应用。在亚埃尺度的空间分辨率下,负球差成像技术不但可以获得高衬度的原子尺度结构像,而且可以在皮米精度测量材料中的原子的相对位移... 简要介绍基于像差校正高分辨透射电子显微镜的负球差成像技术及其在研究功能氧化物材料原子构型中的应用。在亚埃尺度的空间分辨率下,负球差成像技术不但可以获得高衬度的原子尺度结构像,而且可以在皮米精度测量材料中的原子的相对位移,从而精确表征材料结构、晶格缺陷的细微变化及其对材料性能的影响。负球差成像技术为定量解析材料中包含轻原子(例如,氧)在内的精细结构问题提供了有力的手段。重点介绍了负球差成像技术在表征铁电材料电偶极矩、畴结构及畴壁,氧化物异质界面和三维Mg O晶体表面精细结构中的应用。 展开更多
关键词 界面 显微结构 氧化物 像差校正高分辨透射电子显微术 负球差成像
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