期刊导航
期刊开放获取
上海教育软件发展有限公..
期刊文献
+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
检索
高级检索
期刊导航
共找到
1
篇文章
<
1
>
每页显示
20
50
100
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
显示方式：
文摘
详细
列表
相关度排序
被引量排序
时效性排序
X射线荧光光谱分析中谱线重叠校正系数的测量
被引量：
3
1
作者
葛颖新
张环月
唐侠
《理化检验（化学分册）》
CAS
CSCD
北大核心
2017年第2期183-189,共7页
应用整套标准样品法和基本参数(FP)法计算谱线重叠校正系数(K)效果较好。应用整套标准样品法需选用与被测样品具有相同基体和近似组成的标准样品;由于共存组分的谱线重叠的干扰常导致校正曲线产生较大的负截距,需通过多次迭代计算消除...
应用整套标准样品法和基本参数(FP)法计算谱线重叠校正系数(K)效果较好。应用整套标准样品法需选用与被测样品具有相同基体和近似组成的标准样品;由于共存组分的谱线重叠的干扰常导致校正曲线产生较大的负截距,需通过多次迭代计算消除截距而使曲线通过原点,因为只有这样得到的K和M才是真值。实践中常有一些例子不能用整套标准样品法计算K值,例如钢中测定低含量铬时受到钒的重叠干扰问题。在此实例中除了钒对铬的谱线重叠干扰之外,还有仪器通道材料的干扰,此时,必须先用瑞利散射校正法消除此干扰后,选用铁基的标准样品,用FP法计算K值,可消除钒对铬的谱线重叠干扰。
展开更多
关键词
X射
线
荧光光
谱
法
谱线重叠校正系数
基本参数法
在线阅读
下载PDF
职称材料
题名
X射线荧光光谱分析中谱线重叠校正系数的测量
被引量：
3
1
作者
葛颖新
张环月
唐侠
机构
沈阳产品质量监督检验院
大连理工大学材料科学与工程学院
沈阳黎明发动机公司技术中心
出处
《理化检验（化学分册）》
CAS
CSCD
北大核心
2017年第2期183-189,共7页
文摘
应用整套标准样品法和基本参数(FP)法计算谱线重叠校正系数(K)效果较好。应用整套标准样品法需选用与被测样品具有相同基体和近似组成的标准样品;由于共存组分的谱线重叠的干扰常导致校正曲线产生较大的负截距,需通过多次迭代计算消除截距而使曲线通过原点,因为只有这样得到的K和M才是真值。实践中常有一些例子不能用整套标准样品法计算K值,例如钢中测定低含量铬时受到钒的重叠干扰问题。在此实例中除了钒对铬的谱线重叠干扰之外,还有仪器通道材料的干扰,此时,必须先用瑞利散射校正法消除此干扰后,选用铁基的标准样品,用FP法计算K值,可消除钒对铬的谱线重叠干扰。
关键词
X射
线
荧光光
谱
法
谱线重叠校正系数
基本参数法
Keywords
XRFS
Correction coefficients of spectral overlap
Method of fundamental parameters
分类号
O657.34 [理学—分析化学]
在线阅读
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
X射线荧光光谱分析中谱线重叠校正系数的测量
葛颖新
张环月
唐侠
《理化检验（化学分册）》
CAS
CSCD
北大核心
2017
3
在线阅读
下载PDF
职称材料
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
上一页
1
下一页
到第
页
确定
用户登录
登录
IP登录
使用帮助
返回顶部
