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X射线荧光光谱分析中谱线重叠校正系数的测量被引量：3: 1; 作者葛颖新张环月唐侠《理化检验（化学分册）》 CAS CSCD 北大核心 2017年第2期183-189,共7页; 应用整套标准样品法和基本参数(FP)法计算谱线重叠校正系数(K)效果较好。应用整套标准样品法需选用与被测样品具有相同基体和近似组成的标准样品;由于共存组分的谱线重叠的干扰常导致校正曲线产生较大的负截距,需通过多次迭代计算消除... 展开更多; 关键词 X射线荧光光谱法谱线重叠校正系数基本参数法; 在线阅读下载PDF 职称材料

X射线荧光光谱法测定化探样品中主、次和痕量组分被引量：63: 2; 作者张勤樊守忠 +1 位作者潘宴山李国会《理化检验（化学分册）》 CAS CSCD 北大核心 2005年第8期547-552,共6页; 采用粉末样品压片制样,用PW2440X射线荧光光谱仪对化探样品中氯、溴、硫、氧化钠、氧化镁、三氧化二铝、二氧化硅、磷、氧化钾、氧化钙、钛、锰、三氧化二铁、钴、铌、锆、钇、锶、铷、铅、钍、锌、铜、镍、钒、铬、钡、镧、铈、钕、钪... 展开更多; 关键词 X射线荧光光谱法化探样品背景谱线重叠校正粉末样品压片; 在线阅读下载PDF 职称材料

X射线荧光光谱法测定多目标地球化学调查样品中主次痕量组分被引量：99: 3; 作者张勤樊守忠 +1 位作者潘宴山李国会《岩矿测试》 CAS CSCD 北大核心 2004年第1期19-24,共6页; 采用低压聚乙烯镶边垫底的粉末样品压片制样,用PW2440X射线荧光光谱仪对多目标地球化学调查样品中Na2O、MgO、Al2O3、SiO2、P、K2O、CaO、Ti、Mn、Fe2O3、Co、Nb、Zr、Y、Sr、Rb、Pb、Th、Zn、Cu、Ni、V、Cr、Ba、La等组分进行测定。重... 展开更多; 关键词化探样品 X射线荧光光谱仪背景位置选择谱线重叠校正粉末样品压片; 在线阅读下载PDF 职称材料

岩石中低量稀土和其他痕量元素的X-荧光光谱测定被引量：4: 4; 作者王毅民梁国立《岩矿测试》 CAS 1984年第1期58-62,I0009,共6页; 用X-荧光光谱测定岩石中低量稀土元素的仪器参数和测定条件,文已作过讨论。本文介绍样品分析所采用的基本校正,谱线重叠校正和背景处理方法,并将这些方法应用于其他少量和痕量元素的测定。; 关键词仪器参数光谱测定痕量元素稀土元素样品分析背景处理谱线重叠校正 X-荧光; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名X射线荧光光谱分析中谱线重叠校正系数的测量被引量：3: 1; 作者葛颖新张环月唐侠; 机构沈阳产品质量监督检验院大连理工大学材料科学与工程学院沈阳黎明发动机公司技术中心; 出处《理化检验（化学分册）》 CAS CSCD 北大核心 2017年第2期183-189,共7页; 文摘应用整套标准样品法和基本参数(FP)法计算谱线重叠校正系数(K)效果较好。应用整套标准样品法需选用与被测样品具有相同基体和近似组成的标准样品;由于共存组分的谱线重叠的干扰常导致校正曲线产生较大的负截距,需通过多次迭代计算消除截距而使曲线通过原点,因为只有这样得到的K和M才是真值。实践中常有一些例子不能用整套标准样品法计算K值,例如钢中测定低含量铬时受到钒的重叠干扰问题。在此实例中除了钒对铬的谱线重叠干扰之外,还有仪器通道材料的干扰,此时,必须先用瑞利散射校正法消除此干扰后,选用铁基的标准样品,用FP法计算K值,可消除钒对铬的谱线重叠干扰。; 关键词 X射线荧光光谱法谱线重叠校正系数基本参数法; Keywords XRFS Correction coefficients of spectral overlap Method of fundamental parameters; 分类号 O657.34 [理学—分析化学]; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名X射线荧光光谱法测定化探样品中主、次和痕量组分被引量：63: 2; 作者张勤樊守忠潘宴山李国会; 机构中国地质科学院地球物理化学勘查技术研究所; 出处《理化检验（化学分册）》 CAS CSCD 北大核心 2005年第8期547-552,共6页; 基金国土资源部地质大调查项目(DKD9904017); 文摘采用粉末样品压片制样,用PW2440X射线荧光光谱仪对化探样品中氯、溴、硫、氧化钠、氧化镁、三氧化二铝、二氧化硅、磷、氧化钾、氧化钙、钛、锰、三氧化二铁、钴、铌、锆、钇、锶、铷、铅、钍、锌、铜、镍、钒、铬、钡、镧、铈、钕、钪、镓、砷、铪等34个组分进行测定。讨论了微量元素的背景选择和谱线重叠校正及氯测定的问题。使用经验系数法和康普顿散射线作内标校正基体效应,经标准物质检验,分析结果与标样值吻合,用GBW07308国家一级标准物质作精密度试验,统计结果RSD(n=12)除砷、钒、镍、铜<6.0%,溴、硫、铈、铪、钕、钪、氧化钠、镧、铬、钴和钍<14.0%以外,其余各组分均小于3.0%。; 关键词 X射线荧光光谱法化探样品背景谱线重叠校正粉末样品压片; Keywords X-ray fluorescence spectrometry Geochemical sample Background Correction of spectral line overlapping Pressed powder pellet; 分类号 O657.34 [理学—分析化学]; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名X射线荧光光谱法测定多目标地球化学调查样品中主次痕量组分被引量：99: 3; 作者张勤樊守忠潘宴山李国会; 机构中国地质科学院地球物理地球化学勘查技术研究所; 出处《岩矿测试》 CAS CSCD 北大核心 2004年第1期19-24,共6页; 基金国土资源部地质大调查项目(DKD9904017); 文摘采用低压聚乙烯镶边垫底的粉末样品压片制样,用PW2440X射线荧光光谱仪对多目标地球化学调查样品中Na2O、MgO、Al2O3、SiO2、P、K2O、CaO、Ti、Mn、Fe2O3、Co、Nb、Zr、Y、Sr、Rb、Pb、Th、Zn、Cu、Ni、V、Cr、Ba、La等组分进行测定。重点讨论了微量元素的背景选择和谱线重叠校正问题。使用经验系数法和康普顿散射线作内标校正基体效应,经标准物质分析检验,结果与标准值吻合,用GBW07308和GBW07310水系沉积物国家一级标准物质作精密度试验,统计结果RSD(n=12)除La、Cr、Co和Th<14.00%以外,其余各组分均小于6.00%。; 关键词化探样品 X射线荧光光谱仪背景位置选择谱线重叠校正粉末样品压片; Keywords geochemical exploration sample PW2440 X-ray fluorescence spectrometer selected background position spectra overlap correction pressed powder pellet; 分类号 O657.34 [理学—分析化学]; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名岩石中低量稀土和其他痕量元素的X-荧光光谱测定被引量：4: 4; 作者王毅民梁国立; 机构中国地质科学院岩矿测试技术研究所; 出处《岩矿测试》 CAS 1984年第1期58-62,I0009,共6页; 文摘用X-荧光光谱测定岩石中低量稀土元素的仪器参数和测定条件,文已作过讨论。本文介绍样品分析所采用的基本校正,谱线重叠校正和背景处理方法,并将这些方法应用于其他少量和痕量元素的测定。; 关键词仪器参数光谱测定痕量元素稀土元素样品分析背景处理谱线重叠校正 X-荧光; 分类号 O65 [理学—分析化学]; 在线阅读下载PDF 职称材料

	题名	作者	出处	发文年	被引量	操作
1	X射线荧光光谱分析中谱线重叠校正系数的测量	葛颖新张环月唐侠	《理化检验（化学分册）》 CAS CSCD 北大核心	2017	3	在线阅读下载PDF 职称材料
2	X射线荧光光谱法测定化探样品中主、次和痕量组分	张勤樊守忠潘宴山李国会	《理化检验（化学分册）》 CAS CSCD 北大核心	2005	63	在线阅读下载PDF 职称材料
3	X射线荧光光谱法测定多目标地球化学调查样品中主次痕量组分	张勤樊守忠潘宴山李国会	《岩矿测试》 CAS CSCD 北大核心	2004	99	在线阅读下载PDF 职称材料
4	岩石中低量稀土和其他痕量元素的X-荧光光谱测定	王毅民梁国立	《岩矿测试》 CAS	1984	4	在线阅读下载PDF 职称材料