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激光跟踪测距中的测量检测技术
1
作者
汤正兴
《激光技术》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1997年第6期346-349,共4页
介绍了利用半导体光源可达秒级的激光跟踪误差斜率曲线测量系统。阵列式激光光束光强分布测试仪和与激光跟踪测距接收机数据采集与处理的接口和打印、Ｉ／０接口等。成为激光跟踪测量设备装配检验和测量的依托手段，给出误差斜率曲线的...
介绍了利用半导体光源可达秒级的激光跟踪误差斜率曲线测量系统。阵列式激光光束光强分布测试仪和与激光跟踪测距接收机数据采集与处理的接口和打印、Ｉ／０接口等。成为激光跟踪测量设备装配检验和测量的依托手段，给出误差斜率曲线的测试结果。
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关键词
半导体光源
误差斜率曲线
测量
激光跟踪测距
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职称材料
题名
激光跟踪测距中的测量检测技术
1
作者
汤正兴
机构
电子工业部第
出处
《激光技术》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1997年第6期346-349,共4页
文摘
介绍了利用半导体光源可达秒级的激光跟踪误差斜率曲线测量系统。阵列式激光光束光强分布测试仪和与激光跟踪测距接收机数据采集与处理的接口和打印、Ｉ／０接口等。成为激光跟踪测量设备装配检验和测量的依托手段，给出误差斜率曲线的测试结果。
关键词
半导体光源
误差斜率曲线
测量
激光跟踪测距
Keywords
semiconductor light source error slope curve measurement laser tracking
分类号
TH744.506 [机械工程—光学工程]
TH761.2 [机械工程—精密仪器及机械]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
激光跟踪测距中的测量检测技术
汤正兴
《激光技术》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1997
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