期刊文献+
共找到3篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
基于角度倾斜突变的边坡临界状态确定方法 被引量:1
1
作者 屈晓英 袁维 +3 位作者 谭捍华 黎海滨 王伟 彭澍 《应用力学学报》 CAS CSCD 北大核心 2021年第6期2353-2359,共7页
考虑到边坡渐进破坏过程中监测点产生角度变化,提出基于角度倾斜突变的边坡临界状态确定方法。通过FLAC 3D软件建立不同坡高、坡角、宽高比的三维岩质边坡模型,用等效强度参数的Mohr-Coulomb准则代替Hoek-Brown准则进行强度折减计算,绘... 考虑到边坡渐进破坏过程中监测点产生角度变化,提出基于角度倾斜突变的边坡临界状态确定方法。通过FLAC 3D软件建立不同坡高、坡角、宽高比的三维岩质边坡模型,用等效强度参数的Mohr-Coulomb准则代替Hoek-Brown准则进行强度折减计算,绘制坡顶各监测点取不同角度传感器长度时的角度-折减系数关系曲线;鉴于其存在突变特征,采用双曲线方程拟合计算安全系数。结果显示,角度传感器的长度增大,各监测点角度变化灵敏性增强,也可一定程度改善拟合效果。角度-折减系数拟合计算得到的边坡安全系数与FLAC 3D软件求解出的安全系数的相对误差均在5%以内,且与位移突变判据计算的安全系数结果接近,说明基于角度倾斜突变确定边坡临界状态的方法可行。该方法物理意义明确,判断简单,尤其适用于三维边坡。 展开更多
关键词 角度倾斜突变 临界状态 三维岩质边坡 强度折减计算 安全系数
在线阅读 下载PDF
解决雷达方位角突变问题的一种方法 被引量:1
2
作者 卓奕弘 姜秋喜 +2 位作者 刘鑫 刘少平 张武兵 《现代雷达》 CSCD 北大核心 2019年第3期53-57,共5页
针对雷达坐标系在特定情况会发生方位角突变,造成跟踪算法发散、降低跟踪性能的问题,提出了将量测中的方位角信息转化为方位角余弦值和正弦值,并将这两个值嵌入雷达量测中,构成修正量测。由于修正量测的协方差矩阵为奇异矩阵,该文用方... 针对雷达坐标系在特定情况会发生方位角突变,造成跟踪算法发散、降低跟踪性能的问题,提出了将量测中的方位角信息转化为方位角余弦值和正弦值,并将这两个值嵌入雷达量测中,构成修正量测。由于修正量测的协方差矩阵为奇异矩阵,该文用方位角方差构成的对角矩阵替换两个三角函数量测的协方差矩阵。仿真结果表明,修正量测及其协方差矩阵的替换对跟踪精度的影响很小,并且即使在角度突变的情况下,跟踪算法结合修正量测数据同样可以实现对目标的稳定跟踪。 展开更多
关键词 目标跟踪 角度突变 奇异矩阵
在线阅读 下载PDF
ADS液晶面板划痕Mura研究 被引量:3
3
作者 李晓吉 赵彦礼 +7 位作者 栗鹏 李哲 辛兰 朴正淏 廖燕平 李承珉 闵泰烨 邵喜斌 《液晶与显示》 CAS CSCD 北大核心 2020年第1期31-40,共10页
手指滑动ADS(Advanced Super Dimension Switch)液晶面板的L255画面时,由于按压导致的液晶分子形变和电场作用,滑动位置亮度会降低,表现为留下发暗的按压的痕迹。如果该痕迹在按压5 s后不能恢复,我们称之为划痕Mura(Trace Mura)。本文... 手指滑动ADS(Advanced Super Dimension Switch)液晶面板的L255画面时,由于按压导致的液晶分子形变和电场作用,滑动位置亮度会降低,表现为留下发暗的按压的痕迹。如果该痕迹在按压5 s后不能恢复,我们称之为划痕Mura(Trace Mura)。本文通过对比5种不同像素设计的液晶面板的滑动按压实验的结果,得到了像素电极设计、驱动电压对Trace Mura的影响;进一步模拟分析液晶分子状态,得到判断不同像素设计的Trace Mura风险的模拟方法。主要结论如下首先,像素电极尾部设计对于Trace Mura改善方面,弧角设计优于切角设计,切角设计优于开口设计;像素电极间距(Space)越小,Trace Mura风险越小。其次,Trace Mura需要在高灰阶电压下按压划动液晶面板才能发生;而发生Trace Mura的液晶面板,可以通过降低液晶面板的电压灰阶来消除按压痕迹。最后,对比液晶分子状态模拟结果,确认在电极末端的液晶分子方位角会发生突变(即向相反方向偏转),模拟的突变角度在-15°以上,预测有Trace Mura风险。 展开更多
关键词 液晶显示面板 按压痕迹 方位角 突变角度
在线阅读 下载PDF
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部