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衰减相移掩模光刻技术研究 被引量:2
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作者 冯伯儒 张锦 +2 位作者 侯德胜 周崇喜 陈芬 《光电工程》 CAS CSCD 1999年第5期4-8,12,共6页
论述了衰减相移掩模光刻技术的原理和曝光实验研究,给出了光刻曝光实验部分结果。
关键词 光刻相移掩模 衰减相移掩模
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一种简单的衰减相移掩模 被引量:1
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作者 张锦 冯伯儒 +6 位作者 侯德胜 周崇喜 姚汉民 郭永康 陈芬 孙方 苏平 《激光杂志》 CAS CSCD 北大核心 2000年第3期64-64,66,共2页
:本文介绍了一种与传统Cr掩模制作工艺相兼容的单层衰减相移掩模的结构、原理和制作方法 ,提供了部分实验结果。
关键词 光刻 衰减相移掩模 相移 单层材料
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用于100nm节点ArF准分子激光光刻的相移掩模技术 被引量:1
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作者 冯伯儒 张锦 +3 位作者 宗德蓉 刘娟 陈宝钦 刘明 《光电工程》 CAS CSCD 北大核心 2004年第1期1-4,39,共5页
用于100nm节点ArF准分子激光光刻的相移掩模(PSM)技术主要有无铬相移掩模(CPM),交替相移掩模(APSM)、衰减相移掩模(AttPSM)和混合相移掩模技术。对这些掩模的基本原理、制作方法及性能比较进行了分析研究。研究表明,无铬相位光刻(CPL)PS... 用于100nm节点ArF准分子激光光刻的相移掩模(PSM)技术主要有无铬相移掩模(CPM),交替相移掩模(APSM)、衰减相移掩模(AttPSM)和混合相移掩模技术。对这些掩模的基本原理、制作方法及性能比较进行了分析研究。研究表明,无铬相位光刻(CPL)PSM和高透AttPSM 相结合构成的混合掩模最适合用于193nmArF光刻,以产生100nm节点抗蚀剂图形。 展开更多
关键词 激光光刻技术 相移掩模 准分子光刻 无铬相移掩模 交替相移掩模 衰减相移掩模 混合相移掩模
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