期刊导航
期刊开放获取
上海教育软件发展有限公..
期刊文献
+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
检索
高级检索
期刊导航
共找到
3
篇文章
<
1
>
每页显示
20
50
100
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
显示方式:
文摘
详细
列表
相关度排序
被引量排序
时效性排序
衰减相移掩模光刻技术研究
被引量:
2
1
作者
冯伯儒
张锦
+2 位作者
侯德胜
周崇喜
陈芬
《光电工程》
CAS
CSCD
1999年第5期4-8,12,共6页
论述了衰减相移掩模光刻技术的原理和曝光实验研究,给出了光刻曝光实验部分结果。
关键词
光刻
相移
掩模
衰减相移掩模
在线阅读
下载PDF
职称材料
一种简单的衰减相移掩模
被引量:
1
2
作者
张锦
冯伯儒
+6 位作者
侯德胜
周崇喜
姚汉民
郭永康
陈芬
孙方
苏平
《激光杂志》
CAS
CSCD
北大核心
2000年第3期64-64,66,共2页
:本文介绍了一种与传统Cr掩模制作工艺相兼容的单层衰减相移掩模的结构、原理和制作方法 ,提供了部分实验结果。
关键词
光刻
衰减相移掩模
相移
器
单层材料
在线阅读
下载PDF
职称材料
用于100nm节点ArF准分子激光光刻的相移掩模技术
被引量:
1
3
作者
冯伯儒
张锦
+3 位作者
宗德蓉
刘娟
陈宝钦
刘明
《光电工程》
CAS
CSCD
北大核心
2004年第1期1-4,39,共5页
用于100nm节点ArF准分子激光光刻的相移掩模(PSM)技术主要有无铬相移掩模(CPM),交替相移掩模(APSM)、衰减相移掩模(AttPSM)和混合相移掩模技术。对这些掩模的基本原理、制作方法及性能比较进行了分析研究。研究表明,无铬相位光刻(CPL)PS...
用于100nm节点ArF准分子激光光刻的相移掩模(PSM)技术主要有无铬相移掩模(CPM),交替相移掩模(APSM)、衰减相移掩模(AttPSM)和混合相移掩模技术。对这些掩模的基本原理、制作方法及性能比较进行了分析研究。研究表明,无铬相位光刻(CPL)PSM和高透AttPSM 相结合构成的混合掩模最适合用于193nmArF光刻,以产生100nm节点抗蚀剂图形。
展开更多
关键词
激光光刻技术
相移
掩模
准分子光刻
无铬
相移
掩模
交替
相移
掩模
衰减相移掩模
混合
相移
掩模
在线阅读
下载PDF
职称材料
题名
衰减相移掩模光刻技术研究
被引量:
2
1
作者
冯伯儒
张锦
侯德胜
周崇喜
陈芬
机构
中国科学院光电技术研究所微细加工光学技术国家重点实验室
出处
《光电工程》
CAS
CSCD
1999年第5期4-8,12,共6页
基金
国家自然科学基金!(69776028)
中国科学院重大项目基金
文摘
论述了衰减相移掩模光刻技术的原理和曝光实验研究,给出了光刻曝光实验部分结果。
关键词
光刻
相移
掩模
衰减相移掩模
Keywords
Lithography,Phase shifting mask,Attenuation phase shifting mask,Exposure.
分类号
TN305.7 [电子电信—物理电子学]
在线阅读
下载PDF
职称材料
题名
一种简单的衰减相移掩模
被引量:
1
2
作者
张锦
冯伯儒
侯德胜
周崇喜
姚汉民
郭永康
陈芬
孙方
苏平
机构
四川大学物理系
中科院光电所微细加工光学技术国家重点实验室
出处
《激光杂志》
CAS
CSCD
北大核心
2000年第3期64-64,66,共2页
基金
中科院重大项目和中科院光电所所长基金资助
文摘
:本文介绍了一种与传统Cr掩模制作工艺相兼容的单层衰减相移掩模的结构、原理和制作方法 ,提供了部分实验结果。
关键词
光刻
衰减相移掩模
相移
器
单层材料
Keywords
photolithography,phase shifting mask,attenuated phase shifting mask
分类号
TN305.7 [电子电信—物理电子学]
在线阅读
下载PDF
职称材料
题名
用于100nm节点ArF准分子激光光刻的相移掩模技术
被引量:
1
3
作者
冯伯儒
张锦
宗德蓉
刘娟
陈宝钦
刘明
机构
中国科学院光电技术研究所微细加工光学技术国家重点实验室
中国科学院微电子中心
出处
《光电工程》
CAS
CSCD
北大核心
2004年第1期1-4,39,共5页
基金
国家自然科学基金资助项目 ( 60276043)
中国科学院光电技术研究所微细加工光学技术国家重点实验室基金资助课题
文摘
用于100nm节点ArF准分子激光光刻的相移掩模(PSM)技术主要有无铬相移掩模(CPM),交替相移掩模(APSM)、衰减相移掩模(AttPSM)和混合相移掩模技术。对这些掩模的基本原理、制作方法及性能比较进行了分析研究。研究表明,无铬相位光刻(CPL)PSM和高透AttPSM 相结合构成的混合掩模最适合用于193nmArF光刻,以产生100nm节点抗蚀剂图形。
关键词
激光光刻技术
相移
掩模
准分子光刻
无铬
相移
掩模
交替
相移
掩模
衰减相移掩模
混合
相移
掩模
Keywords
Laser lithography
Phase-shifting mask
Excimer lithography
分类号
TN305.7 [电子电信—物理电子学]
在线阅读
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
衰减相移掩模光刻技术研究
冯伯儒
张锦
侯德胜
周崇喜
陈芬
《光电工程》
CAS
CSCD
1999
2
在线阅读
下载PDF
职称材料
2
一种简单的衰减相移掩模
张锦
冯伯儒
侯德胜
周崇喜
姚汉民
郭永康
陈芬
孙方
苏平
《激光杂志》
CAS
CSCD
北大核心
2000
1
在线阅读
下载PDF
职称材料
3
用于100nm节点ArF准分子激光光刻的相移掩模技术
冯伯儒
张锦
宗德蓉
刘娟
陈宝钦
刘明
《光电工程》
CAS
CSCD
北大核心
2004
1
在线阅读
下载PDF
职称材料
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
上一页
1
下一页
到第
页
确定
用户登录
登录
IP登录
使用帮助
返回顶部