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用ATR方法研究液晶表面光学性质
被引量：
1
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作者
王炳奎
贺黎明
+3 位作者
李国梅
包于诗
王权
夏明思
《激光杂志》
CAS
CSCD
北大核心
1996年第3期145-148,共4页
本文用衰减全反射方法（ＡＴＲ）研究液晶在基片表面上的性质，测试在外电场作用下液晶分子重新定向引起光学性质的变化。液晶薄层的光学常数和厚度用ＡＴＲ曲线拟合计算。
关键词
衰减全反射方法
液晶
ATR
表面光学性质
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职称材料
题名
用ATR方法研究液晶表面光学性质
被引量：
1
1
作者
王炳奎
贺黎明
李国梅
包于诗
王权
夏明思
机构
华东理工大学物理系
出处
《激光杂志》
CAS
CSCD
北大核心
1996年第3期145-148,共4页
基金
上海市自然科学基金
文摘
本文用衰减全反射方法（ＡＴＲ）研究液晶在基片表面上的性质，测试在外电场作用下液晶分子重新定向引起光学性质的变化。液晶薄层的光学常数和厚度用ＡＴＲ曲线拟合计算。
关键词
衰减全反射方法
液晶
ATR
表面光学性质
Keywords
attenuated total reflection, liquid crystal
分类号
O753.2 [理学—晶体学]
在线阅读
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
用ATR方法研究液晶表面光学性质
王炳奎
贺黎明
李国梅
包于诗
王权
夏明思
《激光杂志》
CAS
CSCD
北大核心
1996
1
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