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无卷边单分子层WS2纳米片原子结构的高分辨电子显微术研究
被引量：
1
1
作者
李云朋
陈友虎
+2 位作者
田天
王元斐
秦禄昌
《电子显微学报》
CAS
CSCD
2017年第2期96-102,共7页
本文利用高分辨电子显微术(HRTEM)确定了无卷边的单分子层WS_2纳米片的原子结构像。通过对样品不同区域HRTEM像进行傅里叶变换(FFT)分析,得到了各个区域的WS_2纳米片的晶体取向,确定了WS_2纳米片分子层数分布。根据电子显微像强度与样...
本文利用高分辨电子显微术(HRTEM)确定了无卷边的单分子层WS_2纳米片的原子结构像。通过对样品不同区域HRTEM像进行傅里叶变换(FFT)分析,得到了各个区域的WS_2纳米片的晶体取向,确定了WS_2纳米片分子层数分布。根据电子显微像强度与样品层数的线性关系以及WS_2纳米片的单分子层数分布模型,确定不同区域WS_2纳米片的分子层数。为了进一步定量分析结果的正确性,通过模拟电子显微像在不同碳膜厚度及不同成像条件下WS_2纳米片的HRTEM像,也确定了在像衬度上与实验像很好的匹配。
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关键词
单层WS2纳米片
高分辨电子显微术
衬度模拟
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职称材料
题名
无卷边单分子层WS2纳米片原子结构的高分辨电子显微术研究
被引量：
1
1
作者
李云朋
陈友虎
田天
王元斐
秦禄昌
机构
安徽理工大学
中国科学院宁波材料技术与工程研究所
University of North Carolinaat Chapel Hill
出处
《电子显微学报》
CAS
CSCD
2017年第2期96-102,共7页
基金
国家自然科学基金资助项目(No.11474294)
浙江省自然科学基金资助项目(No.LY14E020010)
文摘
本文利用高分辨电子显微术(HRTEM)确定了无卷边的单分子层WS_2纳米片的原子结构像。通过对样品不同区域HRTEM像进行傅里叶变换(FFT)分析,得到了各个区域的WS_2纳米片的晶体取向,确定了WS_2纳米片分子层数分布。根据电子显微像强度与样品层数的线性关系以及WS_2纳米片的单分子层数分布模型,确定不同区域WS_2纳米片的分子层数。为了进一步定量分析结果的正确性,通过模拟电子显微像在不同碳膜厚度及不同成像条件下WS_2纳米片的HRTEM像,也确定了在像衬度上与实验像很好的匹配。
关键词
单层WS2纳米片
高分辨电子显微术
衬度模拟
Keywords
monolayer WS2 nanosheet
high-resolution transmission electron microscopy
image simulation
分类号
O614.613 [理学—无机化学]
TB383.1 [一般工业技术—材料科学与工程]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
无卷边单分子层WS2纳米片原子结构的高分辨电子显微术研究
李云朋
陈友虎
田天
王元斐
秦禄昌
《电子显微学报》
CAS
CSCD
2017
1
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