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表面的高分辨电子显微平面像的模拟
被引量：
1
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作者
李树有
关若男
+1 位作者
李日升
叶恒强
《电子显微学报》
CAS
CSCD
1997年第3期182-193,共12页
本文全面讨论了多层法用于表面的高分辨电子显微平面像模拟计算中的各种影响因素以及需要注意的技术细节。包括光阑大小、欠焦量、样品厚度、色差与束发散度、吸收系数等的影响。
关键词
高分辨
电子显微学
表面正面成像法
成像
条件
在线阅读
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职称材料
题名
表面的高分辨电子显微平面像的模拟
被引量：
1
1
作者
李树有
关若男
李日升
叶恒强
机构
中国科学院金属研究所固体原子像开放研究实验室
出处
《电子显微学报》
CAS
CSCD
1997年第3期182-193,共12页
文摘
本文全面讨论了多层法用于表面的高分辨电子显微平面像模拟计算中的各种影响因素以及需要注意的技术细节。包括光阑大小、欠焦量、样品厚度、色差与束发散度、吸收系数等的影响。
关键词
高分辨
电子显微学
表面正面成像法
成像
条件
Keywords
high resolution electron microscopy\ plan view imaging of surfaces\ multislice simulation imaging parameters
分类号
TN16 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
表面的高分辨电子显微平面像的模拟
李树有
关若男
李日升
叶恒强
《电子显微学报》
CAS
CSCD
1997
1
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