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基于遗传排序的测试集优化
被引量：
5
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作者
乔家庆
付平
尹洪涛
《电子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2007年第12期2335-2338,共4页
测试集优化是数字电路测试的一个基本问题.本文提出了一种基于遗传排序的测试集优化方法,采用遗传算法对测试集的"矢量-故障"矩阵的行向量排列顺序进行优化,并采用行列消去法作为适应度评估方法.实验结果表明,基于遗传排序的...
测试集优化是数字电路测试的一个基本问题.本文提出了一种基于遗传排序的测试集优化方法,采用遗传算法对测试集的"矢量-故障"矩阵的行向量排列顺序进行优化,并采用行列消去法作为适应度评估方法.实验结果表明,基于遗传排序的测试集优化方法有效地减少了测试矢量的数目,而且保证了所得的测试集中不包含冗余测试矢量.
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关键词
测试集优化
遗传算法
行列消去法
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职称材料
题名
基于遗传排序的测试集优化
被引量：
5
1
作者
乔家庆
付平
尹洪涛
机构
哈尔滨工业大学自动化测试与控制研究所
出处
《电子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2007年第12期2335-2338,共4页
文摘
测试集优化是数字电路测试的一个基本问题.本文提出了一种基于遗传排序的测试集优化方法,采用遗传算法对测试集的"矢量-故障"矩阵的行向量排列顺序进行优化,并采用行列消去法作为适应度评估方法.实验结果表明,基于遗传排序的测试集优化方法有效地减少了测试矢量的数目,而且保证了所得的测试集中不包含冗余测试矢量.
关键词
测试集优化
遗传算法
行列消去法
Keywords
test set optimization
genetic algorithm
row-column elimination
分类号
TP18 [自动化与计算机技术—控制理论与控制工程]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
基于遗传排序的测试集优化
乔家庆
付平
尹洪涛
《电子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2007
5
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