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模拟集成电路的测试节点选择
被引量：
16
1
作者
孙秀斌
陈光(?)
谢永乐
《电子与信息学报》
EI
CSCD
北大核心
2004年第4期645-650,共6页
如何寻求一个最佳的测试节点或测试矢量集是模拟集成电路的故障诊断中的重要问题。该文提出了一种基于可测性测度计算的测试节点选择方法。利用行列式判决图,可以有效而准确地求得被测电路传输函数的符号表达式和计算出其可测性测度。...
如何寻求一个最佳的测试节点或测试矢量集是模拟集成电路的故障诊断中的重要问题。该文提出了一种基于可测性测度计算的测试节点选择方法。利用行列式判决图,可以有效而准确地求得被测电路传输函数的符号表达式和计算出其可测性测度。该方法完全消除了由数字方法引入的不可避免的舍入误差,并能处理中、大规模的集成电路.
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关键词
模拟集成电路
故障诊断
可测性测度
行列式判决图
测试节点
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职称材料
题名
模拟集成电路的测试节点选择
被引量：
16
1
作者
孙秀斌
陈光(?)
谢永乐
机构
电子科技大学自动化工程学院
出处
《电子与信息学报》
EI
CSCD
北大核心
2004年第4期645-650,共6页
文摘
如何寻求一个最佳的测试节点或测试矢量集是模拟集成电路的故障诊断中的重要问题。该文提出了一种基于可测性测度计算的测试节点选择方法。利用行列式判决图,可以有效而准确地求得被测电路传输函数的符号表达式和计算出其可测性测度。该方法完全消除了由数字方法引入的不可避免的舍入误差,并能处理中、大规模的集成电路.
关键词
模拟集成电路
故障诊断
可测性测度
行列式判决图
测试节点
Keywords
Testability measure, DDDs, Analog integrated circuit
分类号
TN431.1 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
模拟集成电路的测试节点选择
孙秀斌
陈光(?)
谢永乐
《电子与信息学报》
EI
CSCD
北大核心
2004
16
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