期刊文献+
共找到618篇文章
< 1 2 31 >
每页显示 20 50 100
基于P3HT的有机薄膜晶体管环境稳定性提升
1
作者 李强 丁莉峰 +4 位作者 李磊磊 李禹文 李鑫旺 马佳楠 桑胜波 《半导体技术》 CAS 北大核心 2025年第1期23-31,共9页
电子设备领域对高稳定性有机薄膜晶体管(OTFT)的需求日益增长。为了解决有机材料在环境因素作用下影响晶体管稳定性的问题,制备了一种新型OTFT,并同时采用两种方法来提高其环境稳定性:对晶体管进行表面钝化处理,利用钝化层的高化学稳定... 电子设备领域对高稳定性有机薄膜晶体管(OTFT)的需求日益增长。为了解决有机材料在环境因素作用下影响晶体管稳定性的问题,制备了一种新型OTFT,并同时采用两种方法来提高其环境稳定性:对晶体管进行表面钝化处理,利用钝化层的高化学稳定性隔绝空气中的氧分子和水分子;利用聚(3-己基噻)(P3HT)共混聚甲基丙烯酸甲酯(PMMA)有源层获得高抗氧化性和抗水解能力。测试结果表明,经过60d后器件载流子迁移率仅降低到原始值的87.91%,电流开关比降低到原来的81.90%,说明本文提出的环境稳定性提升方法优于其他方法。 展开更多
关键词 聚(3-己基噻吩)(P3HT) 有机薄膜晶体管(Otft) 稳定性提升 表面钝化 有源层共混
在线阅读 下载PDF
稀土掺杂金属氧化物薄膜晶体管研究进展
2
作者 黄湘兰 彭俊彪 《发光学报》 北大核心 2025年第3期436-451,共16页
金属氧化物薄膜晶体管(Metal oxide thin film transistors,MOTFTs)因其具有较高的载流子迁移率和较好的电学稳定性,在大尺寸发光显示驱动背板应用方面极具潜力。此外,MOTFTs与非晶硅薄膜晶体管的制备工艺兼容,制造成本较低,具有较大市... 金属氧化物薄膜晶体管(Metal oxide thin film transistors,MOTFTs)因其具有较高的载流子迁移率和较好的电学稳定性,在大尺寸发光显示驱动背板应用方面极具潜力。此外,MOTFTs与非晶硅薄膜晶体管的制备工艺兼容,制造成本较低,具有较大市场竞争优势。然而,衡量MOTFTs性能的两个关键指标——迁移率和稳定性之间的矛盾限制了其高端显示应用。因此,开发高迁移率兼具高稳定性的MOTFTs成为研究热点和产业竞争焦点。大量研究表明,稀土掺杂氧化物有源半导体材料体系有望实现这一目标。本文重点综述兼具高迁移率和高稳定性的稀土掺杂氧化物材料设计及MOTFTs已达到的性能,探讨稀土掺杂金属氧化物薄膜晶体管(RE-MOTFTs)面临的挑战和发展潜力。 展开更多
关键词 金属氧化物薄膜晶体管 稀土元素 迁移率 稳定性
在线阅读 下载PDF
氧化锌锡薄膜晶体管的制备与性能研究 被引量:1
3
作者 初学峰 胡小军 +2 位作者 张祺 黄林茂 谢意含 《液晶与显示》 CSCD 北大核心 2024年第1期40-47,共8页
为了提高薄膜晶体管的性能,本文基于射频磁控溅射技术,采用氧化锌锡(ZTO)材料作为沟道层,在SiO2/p-Si衬底上制备高性能ZTO薄膜晶体管。采用AFM、XRD、UV-Vis研究了溅射功率对ZTO薄膜的表面形貌和光学性能的影响。使用半导体参数仪对ZTO... 为了提高薄膜晶体管的性能,本文基于射频磁控溅射技术,采用氧化锌锡(ZTO)材料作为沟道层,在SiO2/p-Si衬底上制备高性能ZTO薄膜晶体管。采用AFM、XRD、UV-Vis研究了溅射功率对ZTO薄膜的表面形貌和光学性能的影响。使用半导体参数仪对ZTO薄膜晶体管进行电学性能的测试,利用XPS分析研究溅射功率对ZTO薄膜中元素组成和价态的影响,探索高性能薄膜晶体管的原理机制。实验结果表明,所有ZTO薄膜样品是非晶结构,表面致密,透光率均大于90%。适当增加溅射功率能够改善ZTO薄膜晶体管的电学性能。在90 W溅射功率下制备的薄膜晶体管综合性能较好,其饱和迁移率达到了15.61 cm^(2)/(V·s),亚阈值摆幅为0.30 V/decade,阈值电压为-5.06 V,电流开关比为8.92×10^(9)。 展开更多
关键词 薄膜晶体管 溅射功率 XPS分析 ZTO薄膜
在线阅读 下载PDF
高性能有机薄膜晶体管(OTFT)制备及其导电机制 被引量:2
4
作者 江潮 于爱芳 祁琼 《微纳电子技术》 CAS 北大核心 2009年第7期385-390,共6页
详细介绍了在SiO2和高kHfO2介质层上制备并五苯薄膜晶体管方面的研究,特别是利用原子力显微技术(AFM)和静电力显微技术(EFM)研究了并五苯分子初始生长模式,揭示了衬底形貌、表面化学性能(包括化学清洗和聚合物层修饰)对有机半导体成膜... 详细介绍了在SiO2和高kHfO2介质层上制备并五苯薄膜晶体管方面的研究,特别是利用原子力显微技术(AFM)和静电力显微技术(EFM)研究了并五苯分子初始生长模式,揭示了衬底形貌、表面化学性能(包括化学清洗和聚合物层修饰)对有机半导体成膜结构和薄膜场效应晶体管性能之间的关联,包括晶体管迁移率、开关比和阈值电压等;针对并五苯初始生长成核模式的差异,分析了不同岛(畴)间畴边界对载流子在有机薄膜内输运的影响,有助于理解有机半导体薄膜导电机理。通过优化和控制介电层和有机半导体薄膜层的界面化学性质,在SiO2介质层上成功制备出迁移率为1.0cm2/V.s、开关电流比达到106的OTFT器件;在高kHfO2介质层上获得的OTFT器件的工作电压在-5V以下,开关电流比达到105,载流子迁移率为0.6cm2/V.s;器件性能指标已经达到目前国际上文献报道的最好水平。 展开更多
关键词 有机薄膜晶体管 并五苯 初始生长模式 导电机制
在线阅读 下载PDF
IGZO薄膜晶体管生物传感器无标记检测强直性脊柱炎
5
作者 吕腾博 刘嘉乐 +3 位作者 刘丽 李昕 韩传余 王小力 《西安交通大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2024年第2期157-163,共7页
为了快速检测强直性脊柱炎血清学分子标志物人体白细胞抗原(HLA-B27),开发了一种基于人体白细胞抗原B27(HLA-B27)功能化的氧化铟镓锌(IGZO)薄膜晶体管生物传感器。利用射频磁控溅射技术和微纳加工工艺制备了IGZO薄膜晶体管(IGZO TFT),采... 为了快速检测强直性脊柱炎血清学分子标志物人体白细胞抗原(HLA-B27),开发了一种基于人体白细胞抗原B27(HLA-B27)功能化的氧化铟镓锌(IGZO)薄膜晶体管生物传感器。利用射频磁控溅射技术和微纳加工工艺制备了IGZO薄膜晶体管(IGZO TFT),采用3-氨丙基三乙氧基硅烷(APTES)和抗体对IGZO TFT进行修饰,制备出针对HLA-B27检测的生物传感器。实验结果表明,功能化的IGZO TFT生物传感器具有稳定的电学特性和传感性能。传感器对HLA-B27的检测极限为1 pg/mL,在1 pg/mL至100 ng/mL的范围内均有良好的线性响应。这说明所设计的高性能生物传感器能够有效检测出强直性脊柱炎的标志物。此外,IGZO TFT可以扩展为传感器阵列平台,实现对某种疾病多种标志物的联合检测,在便携式床旁诊断设备的应用中具有巨大潜力。 展开更多
关键词 IGZO 薄膜晶体管 生物传感器 强直性脊柱炎 人体白细胞抗原B27
在线阅读 下载PDF
高迁移率金属氧化物半导体薄膜晶体管的研究进展 被引量:3
6
作者 李强 葛春桥 +4 位作者 陈露 钟威平 梁齐莹 柳春锡 丁金铎 《液晶与显示》 CAS CSCD 北大核心 2024年第4期447-465,共19页
基于金属氧化物半导体(MOS)的薄膜晶体管(TFT)由于较高的场效应迁移率(μFE)、极低的关断漏电流和大面积电性均匀等特点,已成为助推平板显示或柔性显示产业发展的一项关键技术。经过30余年的研究,非晶铟镓锌氧化物(a-IGZO)率先替代非晶... 基于金属氧化物半导体(MOS)的薄膜晶体管(TFT)由于较高的场效应迁移率(μFE)、极低的关断漏电流和大面积电性均匀等特点,已成为助推平板显示或柔性显示产业发展的一项关键技术。经过30余年的研究,非晶铟镓锌氧化物(a-IGZO)率先替代非晶硅(a-Si)在TFT中得到推广应用。然而,为了同时满足显示产业对更高生产效益、更佳显示性能(如高分辨率、高刷新率等)和更低功耗等多元升级要求,需要迁移率更高的MOS TFTs技术。本文从固体物理学的角度,系统综述了MOS TFTs通过多元MOS材料实现高迁移率特性的研究进展,并讨论了迁移率与器件稳定性之间的关系。最后,总结展望了MOS TFTs的现状和发展趋势。 展开更多
关键词 金属氧化物半导体 薄膜晶体管 场效应迁移率 偏压稳定性
在线阅读 下载PDF
柔性氧化物薄膜晶体管栅绝缘层的研究进展 被引量:1
7
作者 谭海星 林剑荣 +5 位作者 黄培源 彭憬怡 刘思 陈建文 徐华 肖鹏 《材料导报》 EI CAS CSCD 北大核心 2024年第23期20-28,共9页
柔性氧化物薄膜晶体管(Thin-film transistor,TFT)因具有迁移率高、电流开关比大、器件均一性好、柔韧性好和轻薄等优点而备受业界关注,广泛应用于柔性有机发光二极管(OLED)显示、柔性传感、仿生突触等领域。其中,栅绝缘层对柔性氧化物... 柔性氧化物薄膜晶体管(Thin-film transistor,TFT)因具有迁移率高、电流开关比大、器件均一性好、柔韧性好和轻薄等优点而备受业界关注,广泛应用于柔性有机发光二极管(OLED)显示、柔性传感、仿生突触等领域。其中,栅绝缘层对柔性氧化物TFT的性能至关重要,它不仅影响着器件的基本电学性能,对器件的偏压、光照稳定性也有着明显的影响。因此,栅绝缘层材料及其制备工艺是实现高性能柔性氧化物TFT制备的关键。本工作综述了柔性氧化物TFT栅绝缘层的研究进展,首先介绍了几种典型的栅绝缘层薄膜制备技术;然后介绍了可应用于柔性氧化物TFT的栅绝缘层材料,包括无机高介电常数(高K)栅绝缘层材料(如氧化锆(ZrO_(2))、氧化铪(HfO_(2))和氧化铝(Al_(2)O_(3)))、有机栅绝缘层材料(如聚乙烯吡咯烷酮(PVP)、聚甲基丙烯酸甲酯(PMMA)和聚乙烯醇(PVA))以及双电层电解质栅绝缘层材料,并论述了几种栅绝缘层材料的优缺点;最后对柔性氧化物TFT的栅绝缘层技术特点和应用进行了总结,并对未来栅绝缘层技术的发展和研究进行了展望。 展开更多
关键词 柔性 薄膜晶体管 栅绝缘层 高介电常数
在线阅读 下载PDF
非晶铟镓锌氧薄膜晶体管反相器稳定性提升的电路设计
8
作者 江舒 张天昊 +2 位作者 魏晓敏 李梁栋 董承远 《液晶与显示》 CAS CSCD 北大核心 2024年第9期1182-1191,共10页
薄膜晶体管(TFT)反相器的稳定性问题是影响其在玻璃上系统(SOG)显示技术等领域中实际应用的重要挑战。本文基于实验数据提取了非晶铟镓锌氧TFT器件仿真模型,拟合并得到了其阈值电压变化幅度(ΔVTH)与电压偏置时间的拉伸指数方程。在此... 薄膜晶体管(TFT)反相器的稳定性问题是影响其在玻璃上系统(SOG)显示技术等领域中实际应用的重要挑战。本文基于实验数据提取了非晶铟镓锌氧TFT器件仿真模型,拟合并得到了其阈值电压变化幅度(ΔVTH)与电压偏置时间的拉伸指数方程。在此基础上,探究了传统伪CMOS反相器的电学稳定性随偏置时间的变化规律,并提出了一种改进的TFT反相器电路,对其进行管宽调节并设计了物理版图。改进型反相器通过延迟输出级下拉管的开启使输出高电平值接近电源电压,增加了18.47%。通过反馈缓解其阈值电压漂移所导致的等效电阻增大对输出级电流的影响,显著提高了其速度稳定性。在电压偏置时间为2.56×10^(7)s时,其上升时间的变化率只有4.09%,远低于传统伪CMOS反相器的296.11%。 展开更多
关键词 反相器 薄膜晶体管 稳定性 非晶铟镓锌氧 玻璃上系统
在线阅读 下载PDF
脉冲对InGaZnO薄膜晶体管性能的影响
9
作者 丘鹤元 谢鑫 +7 位作者 李宗祥 陈周煜 王宝强 王文超 刘正 刘耀 刘娜妮 王洋 《液晶与显示》 CAS CSCD 北大核心 2024年第4期466-471,共6页
超大尺寸IGZO(InGaZnO)产品在高温高湿(50℃/80%)信赖性评价中易发生异常显示不良(Abnormal Display,AD)。其不良原因主要是集成栅极驱动电路(Gate Driver On Array,GOA)的关键器件M2转移特性曲线(IDS-VGS)在评价中发生了严重正移。本... 超大尺寸IGZO(InGaZnO)产品在高温高湿(50℃/80%)信赖性评价中易发生异常显示不良(Abnormal Display,AD)。其不良原因主要是集成栅极驱动电路(Gate Driver On Array,GOA)的关键器件M2转移特性曲线(IDS-VGS)在评价中发生了严重正移。本文通过脉冲实验,模拟GOA关键器件M2的实际工作环境,重现了转移特性曲线严重正移的不良现象。通过设置不同的脉冲实验,揭示了造成不良的主要影响因素:M2器件关闭时,漏极与源极之间的压差VDS过大,使IGZO膜层内的氧空位V+O在电场作用下同时向IGZO与GI(Gate Insulator)的边界及源极端迁移,由于氧空位V+O对电子的捕获作用,最终导致转移特性曲线发生正移,并发现迁移的氧空位V+O经过加热后可以复原。此外,在不改变IGZO成膜条件下,通过减小M2器件关闭时的VDS压差,导入超大尺寸IGZO产品,高温高湿信赖性评价2000 h未发生AD不良。 展开更多
关键词 InGaZnO薄膜晶体管 集成栅极驱动电路 异常显示 阈值电压漂移
在线阅读 下载PDF
基于可加速学习有机薄膜晶体管的视觉图像预处理的研究
10
作者 代岩 陈耿旭 《电视技术》 2024年第5期72-78,85,共8页
图像在传输和显示过程中,由于噪声、特征衰减等原因会造成不同程度的图像质量下降问题,导致信息的错误传递,因此通过图像预处理来改善图像质量及提取图像特征十分必要。除了需要图像采集,还需要人脑对图像进行信息处理。神经形态显示器... 图像在传输和显示过程中,由于噪声、特征衰减等原因会造成不同程度的图像质量下降问题,导致信息的错误传递,因此通过图像预处理来改善图像质量及提取图像特征十分必要。除了需要图像采集,还需要人脑对图像进行信息处理。神经形态显示器件作为可以模拟人脑中的神经元突触,具有传输快、抗干扰能力强等诸多优点,被认为是神经形态领域中有价值的组成部分。提出二维材料Ti3C2TxMXene纳米片与钙钛矿量子点共混(CsPbBr3/MXene)形成的异质结结构增强了光电流的产生,并结合有机半导体材料PDVT-10优异的载流子迁移率制备的有机薄膜突触晶体管,成功模拟了生物突触的兴奋性突触后电流(Excitatory Post-Synaptic Current,EPSC)、双脉冲易化(Paired-Pulse Facilitation,PPF)等基本功能。在相同的光脉冲刺激下,相较于纯CsPbBr3突触晶体管,CsPbBr3/MXene突触晶体管的单脉冲EPSC与多脉冲EPSC峰值分别达到148%与157.6%的巨幅提升,实现了在相同时间内从短期可塑性(Short-Term Plasticity,STP)到长期可塑性(Long-Term Plasticity,LTP)的快速转化。 展开更多
关键词 有机薄膜晶体管 加速学习 图像预处理
在线阅读 下载PDF
中大尺寸电子纸发展现状及其薄膜晶体管基板技术分析
11
作者 雷晟 吴伟 +1 位作者 阎建全 蒲衫 《信息技术与标准化》 2024年第3期40-44,共5页
从电子纸市场观察入手,介绍了中大尺寸电子纸显示在电子阅读器和标牌等领域的应用现状,阐述了电子纸供应链主要情况,探讨了薄膜晶体管基板作为供应链关键上游材料的技术发展方向,分析了薄膜晶体管基板技术上的创新和实现构想,为新一代... 从电子纸市场观察入手,介绍了中大尺寸电子纸显示在电子阅读器和标牌等领域的应用现状,阐述了电子纸供应链主要情况,探讨了薄膜晶体管基板作为供应链关键上游材料的技术发展方向,分析了薄膜晶体管基板技术上的创新和实现构想,为新一代中大尺寸电子纸显示用薄膜晶体管基板的设计提供参考和指导建议。 展开更多
关键词 中大尺寸电子纸 电子纸供应链 电子纸终端 薄膜晶体管 铟镓锌氧化物
在线阅读 下载PDF
彩色薄膜晶体管液晶显示器(TFT-LCD)基本原理与动态 被引量:1
12
作者 林志刚 曲建中 《山东电子》 1999年第2期35-38,共4页
概述了薄膜晶体管液晶显示器基本结构与原理。着重分析比较非晶硅与多晶硅薄膜晶体管的工艺、成本的区别。提出了应大力发展低温多晶硅薄膜晶体管技术,以适应下世纪大屏幕高清晰度液晶显示终端的需求。
关键词 低温多晶硅 薄膜晶体管 液晶显示器 tft-LCD
在线阅读 下载PDF
薄膜晶体管液晶显示器(TFT-LCD)生产线专用设备分析——半导体设备供应商争夺的又一大市场 被引量:2
13
作者 董大为 《中国集成电路》 2007年第3期33-36,27,共5页
1888年奥地利植物学家莱尼茨尔首先发现液晶材料,经许多科学家持续研究,特别是在1968年美国RCA公司的海麦尔发现:向列相液晶的透明薄层通电时,会出现混浊现象(即产生电光效应)。首次制成了静态图像液晶显示器。此后,日本的夏普... 1888年奥地利植物学家莱尼茨尔首先发现液晶材料,经许多科学家持续研究,特别是在1968年美国RCA公司的海麦尔发现:向列相液晶的透明薄层通电时,会出现混浊现象(即产生电光效应)。首次制成了静态图像液晶显示器。此后,日本的夏普,精工和卡西欧等公司在美国公司的成果基础上实现了产品的大量生产,并不断发展。 展开更多
关键词 薄膜晶体管液晶显示器 生产线 设备供应商 设备分析 半导体 市场 美国公司 向列相液晶
在线阅读 下载PDF
使用低电阻金属铝制造薄膜晶体管阵列信号电极 被引量:8
14
作者 刘翔 陈旭 +2 位作者 谢振宇 高浩然 王威 《液晶与显示》 CAS CSCD 北大核心 2009年第4期533-536,共4页
金属电阻是影响大尺寸TFT-LCD信号延迟的关键因素。研究了利用低电阻率金属Al制作大尺寸TFT阵列信号线的生产工艺,发现在完成有源半导体层刻蚀后残留的少量Cl2会在后续工艺中对金属Al造成腐蚀,严重地影响了产品的性能。通过优化刻蚀工艺... 金属电阻是影响大尺寸TFT-LCD信号延迟的关键因素。研究了利用低电阻率金属Al制作大尺寸TFT阵列信号线的生产工艺,发现在完成有源半导体层刻蚀后残留的少量Cl2会在后续工艺中对金属Al造成腐蚀,严重地影响了产品的性能。通过优化刻蚀工艺,采用活性更高的SF6去除刻蚀有源半导体层时残留的少量Cl2,避免了金属Al腐蚀的发生。 展开更多
关键词 薄膜晶体管 腐蚀 刻蚀
在线阅读 下载PDF
用薄形大画面显示鲜艳画像——14型薄膜晶体管(TFT)彩色液晶显示器
15
《电子科技杂志》 1989年第1期45-45,共1页
关键词 薄膜晶体管 tft 彩色液晶显示器 驱动方式 电子束管
在线阅读 下载PDF
金属氧化物薄膜晶体管及其在新型显示中的应用 被引量:12
16
作者 曹镛 陶洪 +4 位作者 邹建华 徐苗 兰林锋 王磊 彭俊彪 《华南理工大学学报(自然科学版)》 EI CAS CSCD 北大核心 2012年第10期1-11,共11页
为适应高分辨率、大尺寸的液晶(LCD)和有源有机发光二极管(AMOLED)等新型显示技术发展的需要,开发了一种新型的基于金属氧化物有源半导体材料的薄膜晶体管(MOTFT)驱动面板.文中阐述了MOTFT的材料、器件结构、制作工艺以及应用,并对影响M... 为适应高分辨率、大尺寸的液晶(LCD)和有源有机发光二极管(AMOLED)等新型显示技术发展的需要,开发了一种新型的基于金属氧化物有源半导体材料的薄膜晶体管(MOTFT)驱动面板.文中阐述了MOTFT的材料、器件结构、制作工艺以及应用,并对影响MOTFT性能的因素进行了讨论.研发团队开发的MOTFT的迁移率最高可达21.6cm2/(V.s),阈值电压为1.63V,开关比为109,亚阈值摆幅为0.216 V/decade.基于该MOTFT驱动面板,在国内率先实现了5英寸彩色AMOLED显示屏.该MOTFT驱动面板具有迁移率高、制作工艺简单、成本较低以及容易实现大面积等优势,在LCD和AMOLED等新型显示领域具有广泛的应用前景. 展开更多
关键词 氧化物半导体 薄膜晶体管 AMOLED 新型显示
在线阅读 下载PDF
退火温度对ZnO薄膜晶体管电学性能的影响 被引量:5
17
作者 张新安 张景文 +1 位作者 张伟风 侯洵 《液晶与显示》 CAS CSCD 北大核心 2009年第4期557-561,共5页
采用光刻剥离法和射频磁控溅射技术在带有热氧化层的硅衬底上制备了以氧化锌(ZnO)为沟道层的薄膜晶体管(ZnO-TFT)。研究了不同温度退火处理对ZnO-TFT电学性能的影响,发现随着ZnO薄膜退火温度的增加,ZnO-TFT的阈值电压减小,电子的场效应... 采用光刻剥离法和射频磁控溅射技术在带有热氧化层的硅衬底上制备了以氧化锌(ZnO)为沟道层的薄膜晶体管(ZnO-TFT)。研究了不同温度退火处理对ZnO-TFT电学性能的影响,发现随着ZnO薄膜退火温度的增加,ZnO-TFT的阈值电压减小,电子的场效应迁移率增大。用原子力显微镜(AFM)对ZnO薄膜的微区结构进行观察,发现ZnO薄膜的平均粒径随退火温度的增加而增大,表明ZnO-TFT电学性质和沟道层薄膜晶粒大小密切相关。 展开更多
关键词 氧化锌 薄膜 晶体管 退火
在线阅读 下载PDF
薄膜晶体管阵列四次光刻工艺中光刻胶灰化工艺的研究 被引量:7
18
作者 刘翔 王章涛 +2 位作者 崔祥彦 邓振波 邱海军 《液晶与显示》 CAS CSCD 北大核心 2008年第2期183-187,共5页
光刻胶灰化是薄膜晶体管四次光刻工艺的核心工艺之一。初步研究了用纯O2对光刻胶进行灰化的工艺,影响光刻胶灰化的主要因素有功率、气压和灰化气体的流量,经过一组正交实验,得到了功率、气压、灰化气体的流量对光刻胶的灰化速率和均匀... 光刻胶灰化是薄膜晶体管四次光刻工艺的核心工艺之一。初步研究了用纯O2对光刻胶进行灰化的工艺,影响光刻胶灰化的主要因素有功率、气压和灰化气体的流量,经过一组正交实验,得到了功率、气压、灰化气体的流量对光刻胶的灰化速率和均匀度的影响趋势。结果表明,功率是影响灰化速率的主要因素。通过不断地优化光刻胶的灰化条件,最终得到了理想的灰化条件,即功率为10500W,气压为26.7Pa,O2的流量为2000mL/min,灰化时间为91s。 展开更多
关键词 薄膜晶体管 四次光刻 光刻胶 灰化
在线阅读 下载PDF
喷墨打印电极在薄膜晶体管中的应用 被引量:5
19
作者 宁洪龙 杨财桂 +7 位作者 陈建秋 陶瑞强 周艺聪 蔡炜 朱镇南 魏靖林 姚日晖 彭俊彪 《材料导报》 EI CAS CSCD 北大核心 2018年第5期742-748,共7页
喷墨打印技术具有成本低、环境友好、效率高和直接写入等优势,被广泛应用于薄膜晶体管(TFTs)中图形化电极的制备。高密度、大尺寸、柔性和低能耗电子器件的快速发展,对打印电极质量提出了更高的要求。文章对导电墨水、喷墨打印技术及喷... 喷墨打印技术具有成本低、环境友好、效率高和直接写入等优势,被广泛应用于薄膜晶体管(TFTs)中图形化电极的制备。高密度、大尺寸、柔性和低能耗电子器件的快速发展,对打印电极质量提出了更高的要求。文章对导电墨水、喷墨打印技术及喷墨打印电极工艺优化进行了总结,并指出了现阶段喷墨打印电极在薄膜晶体管应用中存在的问题及今后的研究方向。 展开更多
关键词 喷墨打印 导电墨水 电极 薄膜晶体管
在线阅读 下载PDF
退火温度对ZnO薄膜晶体管电特性的影响 被引量:5
20
作者 刘玉荣 任力飞 +5 位作者 杨任花 韩静 姚若河 温智超 徐海红 许佳雄 《华南理工大学学报(自然科学版)》 EI CAS CSCD 北大核心 2011年第9期103-107,共5页
针对非晶硅和有机薄膜晶体管的低迁移率问题,以高纯Zn为靶材,反应磁控溅射沉积、且在不同温度下退火的ZnO薄膜作为半导体活性层,成功地制备出基于ZnO材料的薄膜晶体管(ZnO-TFT),研究了退火温度对ZnO-TFT电特性的影响.结果表明:ZnO-TFT... 针对非晶硅和有机薄膜晶体管的低迁移率问题,以高纯Zn为靶材,反应磁控溅射沉积、且在不同温度下退火的ZnO薄膜作为半导体活性层,成功地制备出基于ZnO材料的薄膜晶体管(ZnO-TFT),研究了退火温度对ZnO-TFT电特性的影响.结果表明:ZnO-TFT的载流子迁移率随退火温度的升高而明显增大,700℃退火的样品迁移率为8.00cm2/(V.s),阈值电压随退火温度的升高而明显减小,在较高温度下退火处理制备的ZnO-TFT呈现出较低的关态电流.结合X射线衍射谱、原子力显微镜和X射线光电子能谱对ZnO薄膜的微结构及组分的分析,发现ZnO-TFT性能随退火温度升高的改善来源于退火温度的升高使ZnO薄膜的晶粒尺寸增大且更均匀、外形更规整、表面更光滑,氧含量更少. 展开更多
关键词 薄膜晶体管 氧化锌 电特性 退火温度
在线阅读 下载PDF
上一页 1 2 31 下一页 到第
使用帮助 返回顶部