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LSI 薄膜台阶测量仪的研制
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作者 王云庆 李庆祥 +1 位作者 薛实福 周兆英 《仪器仪表学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1998年第3期268-273,共6页
本文介绍了一台实用化的用于LSI薄膜台阶在线检测的台阶测量仪,它采用精密机械——LVDT——信号处理——计算机控制的方案。使用方便,实现了台阶的自动测量。实验表明:仪器重复测量精度可达±0.0147μm,很好地满... 本文介绍了一台实用化的用于LSI薄膜台阶在线检测的台阶测量仪,它采用精密机械——LVDT——信号处理——计算机控制的方案。使用方便,实现了台阶的自动测量。实验表明:仪器重复测量精度可达±0.0147μm,很好地满足了LSI生产线上的要求。 展开更多
关键词 台阶测量仪 触针 片簧支承 模糊控制 薄膜台阶
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