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用于薄膜厚度均匀性监测的^(147)Pm-β源设计
1
作者
张洁
徐家云
+1 位作者
陈秀莲
王芳娜
《核电子学与探测技术》
CAS
CSCD
北大核心
2013年第2期202-206,共5页
β射线束已被广泛用于工业上纸张、铝箔等薄膜生产中厚度均匀性的在线监测,为提高监测的精细程度和准确度,需要用束斑小、强度高、含韧致辐射少的β粒子束。对此,采用蒙特卡罗EGS5程序,对147Pm-β源的结构和尺寸进行了优化模拟计算设计...
β射线束已被广泛用于工业上纸张、铝箔等薄膜生产中厚度均匀性的在线监测,为提高监测的精细程度和准确度,需要用束斑小、强度高、含韧致辐射少的β粒子束。对此,采用蒙特卡罗EGS5程序,对147Pm-β源的结构和尺寸进行了优化模拟计算设计。在将源结构设计成由内向外依次为147Pm-β源、铝和铅屏蔽层的情况下,模拟计算结果表明:对一定横截面积的147Pm-β源芯,β束流强度随源芯厚度增加而增大,在厚度为25 mg/cm2时达到饱和;穿出β源屏蔽体的韧致辐射强度随铝和铅屏蔽层的增厚减小,当铝和铅层厚度分别大于0.3 mm和0.8 mm时,辐射强度为最小。
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关键词
147Pm-β放射源
薄膜厚度均匀性测量
蒙特卡罗计算
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职称材料
题名
用于薄膜厚度均匀性监测的^(147)Pm-β源设计
1
作者
张洁
徐家云
陈秀莲
王芳娜
机构
四川大学物理科学与技术学院
出处
《核电子学与探测技术》
CAS
CSCD
北大核心
2013年第2期202-206,共5页
文摘
β射线束已被广泛用于工业上纸张、铝箔等薄膜生产中厚度均匀性的在线监测,为提高监测的精细程度和准确度,需要用束斑小、强度高、含韧致辐射少的β粒子束。对此,采用蒙特卡罗EGS5程序,对147Pm-β源的结构和尺寸进行了优化模拟计算设计。在将源结构设计成由内向外依次为147Pm-β源、铝和铅屏蔽层的情况下,模拟计算结果表明:对一定横截面积的147Pm-β源芯,β束流强度随源芯厚度增加而增大,在厚度为25 mg/cm2时达到饱和;穿出β源屏蔽体的韧致辐射强度随铝和铅屏蔽层的增厚减小,当铝和铅层厚度分别大于0.3 mm和0.8 mm时,辐射强度为最小。
关键词
147Pm-β放射源
薄膜厚度均匀性测量
蒙特卡罗计算
Keywords
^147Pm radioactive sources
film thickness uniformity measurement
Monte Carlo calculation
分类号
TL99 [核科学技术—核技术及应用]
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题名
作者
出处
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被引量
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1
用于薄膜厚度均匀性监测的^(147)Pm-β源设计
张洁
徐家云
陈秀莲
王芳娜
《核电子学与探测技术》
CAS
CSCD
北大核心
2013
0
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