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TGC信号放大成形甄别板批量检测系统
被引量：
2
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作者
金革
杨涛
+1 位作者
彭承志
虞孝麒
《核电子学与探测技术》
CAS
CSCD
北大核心
2002年第2期126-128,共3页
介绍一个为批量检测 ASD板而设计的检测系统 ,详细叙述了检测系统的构成、测试原理以及测试结果。
关键词
检测系统
ASD板
增益
信号放大成形甄别板
TGC
薄气隙室探测器
批量检测
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职称材料
题名
TGC信号放大成形甄别板批量检测系统
被引量：
2
1
作者
金革
杨涛
彭承志
虞孝麒
机构
中国科学技术大学近代物理系
出处
《核电子学与探测技术》
CAS
CSCD
北大核心
2002年第2期126-128,共3页
文摘
介绍一个为批量检测 ASD板而设计的检测系统 ,详细叙述了检测系统的构成、测试原理以及测试结果。
关键词
检测系统
ASD板
增益
信号放大成形甄别板
TGC
薄气隙室探测器
批量检测
Keywords
inspection system
ASD
gain
test pulse
分类号
TL81 [核科学技术—核技术及应用]
TN721.5 [电子电信—电路与系统]
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作者
出处
发文年
被引量
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1
TGC信号放大成形甄别板批量检测系统
金革
杨涛
彭承志
虞孝麒
《核电子学与探测技术》
CAS
CSCD
北大核心
2002
2
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