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X射线能谱处理中NaI(Tl)闪烁体边界效应矩阵的蒙特-卡罗计算
1
作者
李湘葆
薛阳中
《辐射防护》
CAS
CSCD
北大核心
1989年第4期272-278,共7页
用 NaI(Tl)闪烁谱仪测量 X 射线机产生的 X 射线能谱是一个较为方便的方法。在此方法的应用中应当考虑到闪烁体边界效应的影响。本文报道了在解谱中表征这一影响的两个矩阵的蒙特-卡罗计算方法和计算结果,并对计算结果作了简要讨论。
关键词
X
射线谱学
NaI(Tl)晶体
边界效应
蒙特-卡罗计算
矩阵
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职称材料
题名
X射线能谱处理中NaI(Tl)闪烁体边界效应矩阵的蒙特-卡罗计算
1
作者
李湘葆
薛阳中
机构
防化研究院
出处
《辐射防护》
CAS
CSCD
北大核心
1989年第4期272-278,共7页
文摘
用 NaI(Tl)闪烁谱仪测量 X 射线机产生的 X 射线能谱是一个较为方便的方法。在此方法的应用中应当考虑到闪烁体边界效应的影响。本文报道了在解谱中表征这一影响的两个矩阵的蒙特-卡罗计算方法和计算结果,并对计算结果作了简要讨论。
关键词
X
射线谱学
NaI(Tl)晶体
边界效应
蒙特-卡罗计算
矩阵
Keywords
X
-
ray Spectrometry
NaI（T1）Crystal
Edge Effect
Monte
-
Carlo Calcula
-
tion
Matrix
分类号
TL7 [核科学技术—辐射防护及环境保护]
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作者
出处
发文年
被引量
操作
1
X射线能谱处理中NaI(Tl)闪烁体边界效应矩阵的蒙特-卡罗计算
李湘葆
薛阳中
《辐射防护》
CAS
CSCD
北大核心
1989
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