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基于ISO14443A协议的RFID集成电路芯片测试系统的研究设计分析 被引量:5
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作者 贾应炜 《现代电子技术》 2014年第17期97-99,共3页
基于ISO14443A协议的RFID集成电路芯片测试系统的设计研究对改善当前ATE的高成本、性能浪费等现象有积极意义。基于ISO14443A协议,利用RFID集成电路芯片设计了一个系统,从软硬件两个方面进行设计调试,并配合优化方案解决设计问题,最终... 基于ISO14443A协议的RFID集成电路芯片测试系统的设计研究对改善当前ATE的高成本、性能浪费等现象有积极意义。基于ISO14443A协议,利用RFID集成电路芯片设计了一个系统,从软硬件两个方面进行设计调试,并配合优化方案解决设计问题,最终结果表明设计系统运行效果佳,稳定性好,对于工业集成电路芯片测试系统的研究有一定价值。 展开更多
关键词 集成电路芯片测试系统 设计 ISO14443A协议 RFID集成电路
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芯片测试系统滚珠丝杠轴承座有限元分析 被引量:2
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作者 贾月明 李斌 《电子工业专用设备》 2021年第6期55-58,共4页
基于有限元理论,运用ANSYS软件建立了滚珠丝杠轴承座的实体模型,对滚珠丝杠轴承座静态特性进行了有限元分析,给出了滚珠丝杠轴承座在约束和载荷作用下的应力云图和位移云图,计算结果表明滚珠丝杠轴承座强度满足设计要求,为滚珠丝杠轴承... 基于有限元理论,运用ANSYS软件建立了滚珠丝杠轴承座的实体模型,对滚珠丝杠轴承座静态特性进行了有限元分析,给出了滚珠丝杠轴承座在约束和载荷作用下的应力云图和位移云图,计算结果表明滚珠丝杠轴承座强度满足设计要求,为滚珠丝杠轴承座的优化设计提供了理论参考。 展开更多
关键词 芯片测试系统 轴承座 滚珠丝杠 有限元分析
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方舟科技选择安捷伦93000系统芯片测试系统
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《电子产品世界》 2003年第04A期63-63,共1页
关键词 方舟科技公司 安捷伦公司 93000系统 芯片测试系统
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LabVIEW背景下的电池管理芯片测试系统设计
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作者 何占玺 刘海江 《通讯世界》 2022年第9期169-171,共3页
为保证锂电池不能过度充电,延长其使用寿命,对一套用于电动车的电池管理芯片测试系统进行研究。该系统能够检测出电池的电压、电流、温度、电路平衡以及电池负载状况,并利用控制器局域网络(controller area network,CAN)总线在上位机接... 为保证锂电池不能过度充电,延长其使用寿命,对一套用于电动车的电池管理芯片测试系统进行研究。该系统能够检测出电池的电压、电流、温度、电路平衡以及电池负载状况,并利用控制器局域网络(controller area network,CAN)总线在上位机接口上实时显示数据。实验结果表明,采用最优方案可以准确地控制采集电压,减小平均压差,提高电池负荷预测的准确性以期为相关人员提供参考。 展开更多
关键词 电池管理 芯片测试系统 设计
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基于片上网络的系统芯片测试研究(英文) 被引量:4
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作者 荆元利 樊晓桠 +2 位作者 张盛兵 高德远 周昔平 《微电子学与计算机》 CSCD 北大核心 2004年第6期154-159,共6页
文章介绍了基于片上网络对系统芯片进行测试的原理和实例,这是一种新的设计方法。首先讨论了未来系统芯片存在的各方面测试挑战,并提出了基于片上网络结构的解决方案。其次,在OSI网络堆栈参考模型的基础上,提出了面向测试的片上网络协... 文章介绍了基于片上网络对系统芯片进行测试的原理和实例,这是一种新的设计方法。首先讨论了未来系统芯片存在的各方面测试挑战,并提出了基于片上网络结构的解决方案。其次,在OSI网络堆栈参考模型的基础上,提出了面向测试的片上网络协议堆栈以及对应的测试服务。最后,介绍了基于片上网络的模块化测试方法。 展开更多
关键词 系统芯片测试 片上网络 协议堆栈 测试服务 模块化测试
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一维纳米结构的拉伸力学测试 被引量:1
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作者 金钦华 王跃林 李铁 《微纳电子技术》 CAS 2008年第4期235-239,244,共6页
对一维纳米结构开展轴向拉伸测试时,面临着样品制备、装载、拉伸、样品的轴向应力与应变的高精度测量等难点,解决途径包括改造现代显微仪器、研制MEMS力学测试芯片及发展一维纳米样品的制备与装载技术。从实验使用的测试仪器及拉伸方式... 对一维纳米结构开展轴向拉伸测试时,面临着样品制备、装载、拉伸、样品的轴向应力与应变的高精度测量等难点,解决途径包括改造现代显微仪器、研制MEMS力学测试芯片及发展一维纳米样品的制备与装载技术。从实验使用的测试仪器及拉伸方式出发,将目前发表的一维纳米拉伸实验分为基于探针、MEMS和电子束辐照开展的拉伸实验,并对各种实验方法进行了比较。发现基于MEMS的拉伸实验由于其对测试仪器的改造小、花费少、且通过设计制作不同测试功能的芯片可实现多样测试,是更有发展前景的测试技术。 展开更多
关键词 一维纳米结构 轴向拉伸实验 纳米力学 微机电系统力学测试芯片 原位测试
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