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BESⅢ主漂移室内室升级MAPS芯片探针台测试系统设计
1
作者
周传兴
董明义
+2 位作者
鞠旭东
董静
欧阳群
《核电子学与探测技术》
北大核心
2017年第3期225-230,共6页
为满足北京谱仪Ⅲ主漂移室内室升级MAPS芯片测试需要,设计了一套用于芯片功能检查的芯片探针台测试系统。该系统实现了批量芯片JTAG通讯、芯片功耗、像素箝位电压、读出数据等芯片的功能检查,并可以进行芯片噪声水平以及甄别器阈值扫描...
为满足北京谱仪Ⅲ主漂移室内室升级MAPS芯片测试需要,设计了一套用于芯片功能检查的芯片探针台测试系统。该系统实现了批量芯片JTAG通讯、芯片功耗、像素箝位电压、读出数据等芯片的功能检查,并可以进行芯片噪声水平以及甄别器阈值扫描等初步测试。芯片的探针台测试不仅在非邦定的情况下完成了芯片的筛选,同时可为后续芯片在探测器上工作时的阈值等参数配置提供参考。
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关键词
单片型有源像素
芯片
硅像素探测器
探针
卡
芯片探针台测试
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职称材料
题名
BESⅢ主漂移室内室升级MAPS芯片探针台测试系统设计
1
作者
周传兴
董明义
鞠旭东
董静
欧阳群
机构
核探测与核电子学国家重点实验室
中国科学院高能物理研究所
中国科学院大学
出处
《核电子学与探测技术》
北大核心
2017年第3期225-230,共6页
基金
国家自然科学基金(U1232202)资助
文摘
为满足北京谱仪Ⅲ主漂移室内室升级MAPS芯片测试需要,设计了一套用于芯片功能检查的芯片探针台测试系统。该系统实现了批量芯片JTAG通讯、芯片功耗、像素箝位电压、读出数据等芯片的功能检查,并可以进行芯片噪声水平以及甄别器阈值扫描等初步测试。芯片的探针台测试不仅在非邦定的情况下完成了芯片的筛选,同时可为后续芯片在探测器上工作时的阈值等参数配置提供参考。
关键词
单片型有源像素
芯片
硅像素探测器
探针
卡
芯片探针台测试
Keywords
monolithic active pixel sensor
Si pixel detector
probe card
chip probe station test
分类号
TL814 [核科学技术—核技术及应用]
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作者
出处
发文年
被引量
操作
1
BESⅢ主漂移室内室升级MAPS芯片探针台测试系统设计
周传兴
董明义
鞠旭东
董静
欧阳群
《核电子学与探测技术》
北大核心
2017
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