期刊导航
期刊开放获取
上海教育软件发展有限公..
期刊文献
+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
检索
高级检索
期刊导航
共找到
1
篇文章
<
1
>
每页显示
20
50
100
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
显示方式：
文摘
详细
列表
相关度排序
被引量排序
时效性排序
SoC测试中低成本、低功耗的芯核包装方法
被引量：
4
1
作者
王伟
韩银和
+2 位作者
胡瑜
李晓维
张佑生
《计算机辅助设计与图形学学报》
EI
CSCD
北大核心
2006年第9期1397-1402,共6页
提出一种SoC测试中新颖的并行芯核包装方法(parallel core wrapper design,pCWD),该包装方法利用扫描切片重叠这一特点,通过缩短包装扫描链长度来减少测试功耗和测试时间.为了进一步减少测试时间,还提出了一种测试向量扫描切片划分和赋...
提出一种SoC测试中新颖的并行芯核包装方法(parallel core wrapper design,pCWD),该包装方法利用扫描切片重叠这一特点,通过缩短包装扫描链长度来减少测试功耗和测试时间.为了进一步减少测试时间,还提出了一种测试向量扫描切片划分和赋值算法.实验结果表明,针对ITC 2002基准SoC集中d695芯片,应用并行包装方法和测试向量切片划分及赋值算法,能够减少50%的测试时间及95%的测试功耗.
展开更多
关键词
SOC测试
芯核包装电路
不确定位
扫描切片
在线阅读
下载PDF
职称材料
题名
SoC测试中低成本、低功耗的芯核包装方法
被引量：
4
1
作者
王伟
韩银和
胡瑜
李晓维
张佑生
机构
合肥工业大学计算机与信息学院
中国科学院计算技术研究所先进测试技术实验室
出处
《计算机辅助设计与图形学学报》
EI
CSCD
北大核心
2006年第9期1397-1402,共6页
基金
国家重点基础研究发展规划项目(2005CB321604)
国家自然科学基金(90207002
+3 种基金
60576031)
北京市重点科技项目(H020120120130)
中国科学院计算技术研究所基金(20056330
20056600-16)
文摘
提出一种SoC测试中新颖的并行芯核包装方法(parallel core wrapper design,pCWD),该包装方法利用扫描切片重叠这一特点,通过缩短包装扫描链长度来减少测试功耗和测试时间.为了进一步减少测试时间,还提出了一种测试向量扫描切片划分和赋值算法.实验结果表明,针对ITC 2002基准SoC集中d695芯片,应用并行包装方法和测试向量切片划分及赋值算法,能够减少50%的测试时间及95%的测试功耗.
关键词
SOC测试
芯核包装电路
不确定位
扫描切片
Keywords
SoC test
core wrapper
don＇t care bits
scan slice
分类号
TP391.7 [自动化与计算机技术—计算机应用技术]
在线阅读
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
SoC测试中低成本、低功耗的芯核包装方法
王伟
韩银和
胡瑜
李晓维
张佑生
《计算机辅助设计与图形学学报》
EI
CSCD
北大核心
2006
4
在线阅读
下载PDF
职称材料
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
上一页
1
下一页
到第
页
确定
用户登录
登录
IP登录
使用帮助
返回顶部
