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一种基于自选择状态的折叠计数器BIST方案
被引量：
1
1
作者
吴义成
梁华国
+2 位作者
李松坤
黄正峰
易茂祥
《计算机研究与发展》
EI
CSCD
北大核心
2010年第S1期195-199,共5页
提出了一种基于选择逻辑电路实现自选择折叠计数器状态转移的BIST方案,它是在基于折叠计数器的基础上,采用LFSR编码折叠计数器种子,并通过设计的选择电路来控制折叠距离的选取,从而实现了确定的与原测试集相等的测试模式生成.方案不仅...
提出了一种基于选择逻辑电路实现自选择折叠计数器状态转移的BIST方案,它是在基于折叠计数器的基础上,采用LFSR编码折叠计数器种子,并通过设计的选择电路来控制折叠距离的选取,从而实现了确定的与原测试集相等的测试模式生成.方案不仅实现了测试数据的压缩,而且成功避开了冗余的无用向量,以达到减少大量的测试时间的目的.实验结果证明,建议的方案不仅具有较高的测试数据压缩率,而且能够非常有效地减少测试应用时间.
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关键词
内建自测试
折叠计数器
自选择电路
测试数据压缩
测试时间
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职称材料
题名
一种基于自选择状态的折叠计数器BIST方案
被引量：
1
1
作者
吴义成
梁华国
李松坤
黄正峰
易茂祥
机构
合肥工业大学计算机与信息学院
合肥工业大学电子科学与应用物理学院
出处
《计算机研究与发展》
EI
CSCD
北大核心
2010年第S1期195-199,共5页
基金
国家自然科学基金项目(60876028)
国家自然科学基金重点项目(60633060)
+4 种基金
高等学校博士学科点专项科研基金项目(200803590006)
安徽省海外高层次人才项目(2008Z014)
合肥工业大学科学研究发展基金项目(2010HGXJ0071)
合肥工业大学博士学位人员专项资助基金项目(GDBJ2010-002)
安徽高校省级自然科学研究重点项目(KJ2010A280)
文摘
提出了一种基于选择逻辑电路实现自选择折叠计数器状态转移的BIST方案,它是在基于折叠计数器的基础上,采用LFSR编码折叠计数器种子,并通过设计的选择电路来控制折叠距离的选取,从而实现了确定的与原测试集相等的测试模式生成.方案不仅实现了测试数据的压缩,而且成功避开了冗余的无用向量,以达到减少大量的测试时间的目的.实验结果证明,建议的方案不仅具有较高的测试数据压缩率,而且能够非常有效地减少测试应用时间.
关键词
内建自测试
折叠计数器
自选择电路
测试数据压缩
测试时间
Keywords
BIST
folding counters
self-selecting circuit
test data compression
test time
分类号
TP3 [自动化与计算机技术—计算机科学与技术]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
一种基于自选择状态的折叠计数器BIST方案
吴义成
梁华国
李松坤
黄正峰
易茂祥
《计算机研究与发展》
EI
CSCD
北大核心
2010
1
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