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导电氧化铋薄膜的逆自旋霍尔效应
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作者 王孟怡 邱志勇 《中国材料进展》 CAS CSCD 北大核心 2021年第10期756-761,共6页
自旋霍尔效应及其逆效应作为自旋电子学中实现自旋-电荷转换的核心物理效应,对纯自旋流的产生、探测有着重要的应用价值,是自旋电子器件开发与应用的关键技术节点。对高自旋-电荷转换效率材料体系的探索与开发是该领域的核心课题。以导... 自旋霍尔效应及其逆效应作为自旋电子学中实现自旋-电荷转换的核心物理效应,对纯自旋流的产生、探测有着重要的应用价值,是自旋电子器件开发与应用的关键技术节点。对高自旋-电荷转换效率材料体系的探索与开发是该领域的核心课题。以导电氧化铋薄膜为对象,研究其中的逆自旋霍尔效应。采用交流磁控溅射系统,使用氧化铋陶瓷靶制备了不同厚度的导电氧化铋薄膜,并与坡莫合金薄膜构成铁磁/非磁双层自旋泵浦器件,在该器件中首次观测并确认了导电氧化铋薄膜中逆自旋霍尔效应所对应的电压信号。通过逆自旋霍尔电压对氧化铋薄膜厚度的依存关系,定量地估算了氧化铋薄膜的自旋霍尔角及自旋扩散长度。通过提出一种新的具备可观测逆自旋霍尔效应的材料体系,不仅拓展了自旋电子材料的选择空间,也为新型自旋电子器件的设计和应用提供了思路。 展开更多
关键词 氧化铋 导电氧化物 自旋霍尔效应 自旋霍尔角 自旋扩散长度 自旋泵浦
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Co/Cu多层纳米线阵列的制备与磁性能 被引量:5
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作者 姚素薇 宋振兴 王宏智 《物理化学学报》 SCIE CAS CSCD 北大核心 2007年第8期1306-1310,共5页
利用双槽直流电沉积技术在阳极氧化铝(AAO)模板的纳米孔中获得调制波长为50和200nm的Co/C多层纳米线,多层纳米线的调制波长由电沉积时间控制.运用扫描电子显微镜(SEM)和透射电子显微镜(TEM)表征纳米线的形貌,Co/Cu多层纳米线的长度约20&... 利用双槽直流电沉积技术在阳极氧化铝(AAO)模板的纳米孔中获得调制波长为50和200nm的Co/C多层纳米线,多层纳米线的调制波长由电沉积时间控制.运用扫描电子显微镜(SEM)和透射电子显微镜(TEM)表征纳米线的形貌,Co/Cu多层纳米线的长度约20"m,直径约80nm;用X射线衍射(XRD)研究多层线的结构;用振动样品磁强计(VSM)测试纳米线阵列的磁性能;利用可变磁场结合高灵敏度恒流装置研究巨磁电阻(GMR)特性结果表明,Co/Cu多层纳米线具有磁各向异性.当磁场与纳米线平行和垂直时,调制波长为50nm的多层线的矫顽力分别为87500和34200A·m-1,而调制波长为200nm的多层线阵列的矫顽力分别为28600和8000A·m调制波长为50nm的多层纳米线的磁电阻变化率高达-75%,而调制波长为200nm的多层线未产生明显的GMR效应. 展开更多
关键词 CO/CU 多层纳米线 GMR 自旋扩散长度 XRD
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