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可编程延时器件的批量测试方法研究
1
作者
赵勇
陈怡
马凯斌
《电子质量》
2024年第3期78-82,共5页
针对可编程延时器件电参数的实验室测试方法在应用于批量测试时存在的诸多弊端,提出将自动测试系统(ATE)测试和板级测试相结合的方法。以LTC6994型可编程延时器件为例,优化了长延时参数的测试方案,优化后的测试方案相较于优化前缩短了55...
针对可编程延时器件电参数的实验室测试方法在应用于批量测试时存在的诸多弊端,提出将自动测试系统(ATE)测试和板级测试相结合的方法。以LTC6994型可编程延时器件为例,优化了长延时参数的测试方案,优化后的测试方案相较于优化前缩短了55%的测试时间,V93000测试系统占用时间缩短到原来的1/6,整体测试效率提高了一倍,证明该参数优化方案可以显著提高可编程延时器件电参数的批量测试效率。
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关键词
延时器件
批量
测试
自动测试系统测试
板级
测试
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职称材料
基于VXI总线的机载导弹综合测试系统的设计
2
作者
王丽
《弹箭与制导学报》
CSCD
北大核心
2006年第S2期440-442,共3页
文中介绍了VXI总线系统的技术特点,详细描述了利用VXI总线组建的导弹测试系统的硬件及应用软件的设计。
关键词
VXI总线
自动测试
系统
综合
测试
航空
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职称材料
题名
可编程延时器件的批量测试方法研究
1
作者
赵勇
陈怡
马凯斌
机构
工业和信息化部电子第五研究所
出处
《电子质量》
2024年第3期78-82,共5页
文摘
针对可编程延时器件电参数的实验室测试方法在应用于批量测试时存在的诸多弊端,提出将自动测试系统(ATE)测试和板级测试相结合的方法。以LTC6994型可编程延时器件为例,优化了长延时参数的测试方案,优化后的测试方案相较于优化前缩短了55%的测试时间,V93000测试系统占用时间缩短到原来的1/6,整体测试效率提高了一倍,证明该参数优化方案可以显著提高可编程延时器件电参数的批量测试效率。
关键词
延时器件
批量
测试
自动测试系统测试
板级
测试
Keywords
delay device
batch testing
ATE testing
board level testing
分类号
TN06 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
基于VXI总线的机载导弹综合测试系统的设计
2
作者
王丽
机构
空军工程大学工程学院
出处
《弹箭与制导学报》
CSCD
北大核心
2006年第S2期440-442,共3页
文摘
文中介绍了VXI总线系统的技术特点,详细描述了利用VXI总线组建的导弹测试系统的硬件及应用软件的设计。
关键词
VXI总线
自动测试
系统
综合
测试
航空
Keywords
VXIbus
automatictestsystem
aviation
分类号
TJ760.6 [兵器科学与技术—武器系统与运用工程]
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职称材料
题名
作者
出处
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1
可编程延时器件的批量测试方法研究
赵勇
陈怡
马凯斌
《电子质量》
2024
0
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职称材料
2
基于VXI总线的机载导弹综合测试系统的设计
王丽
《弹箭与制导学报》
CSCD
北大核心
2006
0
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