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逻辑电路动态老化试验的输入矢量选择方法
1
作者
崔小乐
杨轩
+1 位作者
程作霖
李崇仁
《计算机辅助设计与图形学学报》
EI
CSCD
北大核心
2015年第1期184-191,共8页
针对逻辑电路动态老化试验的输入矢量优化问题,提出一种用于实现被测芯片的自加热能力的输入矢量优化选择方法.该方法采用转换故障模型,利用ATPG手段生成备选的输入矢量集合;为提高功耗权重计算的精确性,对不同类型的门电路在不同输入...
针对逻辑电路动态老化试验的输入矢量优化问题,提出一种用于实现被测芯片的自加热能力的输入矢量优化选择方法.该方法采用转换故障模型,利用ATPG手段生成备选的输入矢量集合;为提高功耗权重计算的精确性,对不同类型的门电路在不同输入组合情况下的功耗权重进行了分析;根据逻辑仿真结果,引入功耗权重指标来描述在不同矢量组合输入条件下被测电路的功耗;以哈密尔顿回路为模型,采用遗传算法在功耗权重的引导下进行优化输入矢量序列的选取.在ISCAS’85基准电路上的实验数据表明,文中方法选取的输入矢量序列可在保持较高电路功耗的同时有效地减少电路中无跳变节点的数量,起到了功耗均匀化的效果.
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关键词
老化试验
自动测试矢量生成
转换故障
功耗权重
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职称材料
超大规模集成电路测试技术
被引量：
6
2
作者
朱莉
林其伟
《中国测试技术》
2006年第6期117-120,共4页
随着系统集成度与加工技术的飞速发展,超大规模集成电路测试已经成为一个越来越困难的问题。测试的理论与技术已经成为VLSI领域中的一个重要研究方向。本文较全面的介绍了各种VLSI测试方法,并分析了各自的特点。最后预计了VLSI测试技术...
随着系统集成度与加工技术的飞速发展,超大规模集成电路测试已经成为一个越来越困难的问题。测试的理论与技术已经成为VLSI领域中的一个重要研究方向。本文较全面的介绍了各种VLSI测试方法,并分析了各自的特点。最后预计了VLSI测试技术的发展趋势。
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关键词
测试
生成
算法
自动测试矢量生成
可测性设计
内建自
测试
存储器
测试
静态功耗电流
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职称材料
题名
逻辑电路动态老化试验的输入矢量选择方法
1
作者
崔小乐
杨轩
程作霖
李崇仁
机构
北京大学深圳研究生院集成微系统科学工程与应用重点实验室
出处
《计算机辅助设计与图形学学报》
EI
CSCD
北大核心
2015年第1期184-191,共8页
基金
国家"九七三"重点基础研究发展计划项目(2015CB057201)
国家自然科学基金(61006032)
+2 种基金
广东省自然科学基金(S2011010001234)
深圳市科技计划(JCYJ20140417144423194
JCYJ20140417144423198)
文摘
针对逻辑电路动态老化试验的输入矢量优化问题,提出一种用于实现被测芯片的自加热能力的输入矢量优化选择方法.该方法采用转换故障模型,利用ATPG手段生成备选的输入矢量集合;为提高功耗权重计算的精确性,对不同类型的门电路在不同输入组合情况下的功耗权重进行了分析;根据逻辑仿真结果,引入功耗权重指标来描述在不同矢量组合输入条件下被测电路的功耗;以哈密尔顿回路为模型,采用遗传算法在功耗权重的引导下进行优化输入矢量序列的选取.在ISCAS’85基准电路上的实验数据表明,文中方法选取的输入矢量序列可在保持较高电路功耗的同时有效地减少电路中无跳变节点的数量,起到了功耗均匀化的效果.
关键词
老化试验
自动测试矢量生成
转换故障
功耗权重
Keywords
burn-in
ATPG
transition fault
power weighting
分类号
TN470 [电子电信—微电子学与固体电子学]
TP806 [自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
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职称材料
题名
超大规模集成电路测试技术
被引量：
6
2
作者
朱莉
林其伟
机构
华侨大学信息学院物理电子学系
出处
《中国测试技术》
2006年第6期117-120,共4页
文摘
随着系统集成度与加工技术的飞速发展,超大规模集成电路测试已经成为一个越来越困难的问题。测试的理论与技术已经成为VLSI领域中的一个重要研究方向。本文较全面的介绍了各种VLSI测试方法,并分析了各自的特点。最后预计了VLSI测试技术的发展趋势。
关键词
测试
生成
算法
自动测试矢量生成
可测性设计
内建自
测试
存储器
测试
静态功耗电流
Keywords
Test algorithms
ATPG
DFF
BIST
Memory testing
IDDQ
分类号
TP29 [自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
逻辑电路动态老化试验的输入矢量选择方法
崔小乐
杨轩
程作霖
李崇仁
《计算机辅助设计与图形学学报》
EI
CSCD
北大核心
2015
0
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职称材料
2
超大规模集成电路测试技术
朱莉
林其伟
《中国测试技术》
2006
6
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职称材料
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参考文献
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