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题名时序电路等价验证的触发器匹配
被引量：1
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作者
张超
竺红卫
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机构
浙江大学电气工程学院
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出处
《电子与信息学报》
EI
CSCD
北大核心
2014年第9期2283-2286,共4页
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文摘
通常的时序电路等价性验证方法是将触发器按时序展开,从而将时序电路转化为组合电路进行验证。而一般在待验证的两个时序电路中,触发器是一一对应的,找到触发器的对应关系,时序电路的验证就会得到很大的简化。该文通过一种新的基于布尔可满足性(SAT)算法的自动测试模式生成(ATPG)匹配模型建立联接电路,使用时序帧展开传递算法比较触发器的帧时序状态输出,同时在SAT解算中加入信息学习继承等启发式算法,将时序电路的触发器一一匹配。在ISCAS89电路上的实验结果表明,该文算法在对触发器的匹配问题上是非常有效的。
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关键词
触发器匹配
自动测试模式生成模型
布尔可满足性
时序帧递进展开
信息学习
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Keywords
Flip-flops matching
Automatic Test Pattern Generation （ATPG） module
Boolean Satisfiability（SAT）
Progressive expansion of sequential frames
Information learning
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分类号
TN47
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名基于可测性测度的蚂蚁路径ATPG算法
被引量：1
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作者
吴建新
容太平
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机构
华中科技大学电子与信息工程系
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出处
《实验室研究与探索》
CAS
2008年第11期17-19,84,共4页
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文摘
电路集成度和复杂度的不断增加使得电路的故障诊断越来越困难。该文在蚂蚁路径ATPG算法的基础上,引入了电路设计中的可测性分析理论,以四值动态代价分析方法(FDCM)作为蚂蚁路径搜索过程中的智能引导启发函数,实现了对原型算法的加速,并通过实验验证了该算法的良好性能。
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关键词
自动测试模式生成
蚂蚁路径
可测性分析
回值动态代价分析法
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Keywords
ATPG
ants paths
testability analysis
FDCM
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分类号
TP206.3
[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
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题名同步时序电路中组合冗余故障识别技术
- 3
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作者
郭希维
苏群星
谷宏强
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机构
军械工程学院导弹工程系
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出处
《兵工自动化》
2007年第2期83-85,共3页
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文摘
对时序电路的迭代逻辑阵列(ILA)施加组合ATPG(自动测试模式生成),可得到不可测故障识别的定理和条件,其条件针对故障电路给出。基于无故障电路的条件,其验证过程用状态图表示。并用ILA识别不可测故障均为组合冗余故障,而组合冗余故障可用长度为1的ILA实现。故可由此简化不可测故障的识别过程。并通过时序电路中的组合冗余故障识别以验证。
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关键词
不可测故障
组合冗余
迭代逻辑阵列
自动测试模式生成
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Keywords
Undetectable faults
Combinational redundancy
ILA
ATPG
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分类号
TP206.3
[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
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题名基于ATPG的可测性设计在RSIC CPU的应用
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作者
周显文
吕炳朝
石岭
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机构
电子科技大学
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出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2001年第10期33-36,共4页
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文摘
介绍了自动测试模式生成的测试故障模型和设计流程，以及自动测试模式生成结合可测性设计技术在测试ＲＳＩＣ
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关键词
可测性设计
自动测试模式生成
CPU
RSIC
中央处理器
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Keywords
design for test
automatic test pattern generation
fault coverage
test pattern
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分类号
TP332
[自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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