2014中国自动测试大会（AUTOTEST CHINA 2014，以下简称为“会议”）于6月5—7日在中国西安召开。会议集自动测试专题报告、技术交流、产品展示为一体，全方位展示目前我国自动测试技术和产品的最新进展和应用。“中国自动测试路在何方...2014中国自动测试大会（AUTOTEST CHINA 2014，以下简称为“会议”）于6月5—7日在中国西安召开。会议集自动测试专题报告、技术交流、产品展示为一体，全方位展示目前我国自动测试技术和产品的最新进展和应用。“中国自动测试路在何方？”高峰论坛和中国电子学会电子测量与仪器分会主任委员工作会议同期召开。来自全国各高等院校、科研院所、企事业单位的150多位自动测试领域知名专家、学者、工程技术人员共聚一堂，交流和探讨我国“自动测试系统”发展中共同关心的问题，并就有关工作达成了共识。展开更多
TN213 97063897碲镉汞晶片少数载流子寿命面分布的自动测试技术=Automatic measurement technology for thearea distribution of the minority carrier lifetimeof HgCdTe wafer[刊,中]/龚海梅,李言谨,胡晓宁,靳秀芬,宣荣伟,朱龙源。
文摘2014中国自动测试大会（AUTOTEST CHINA 2014，以下简称为“会议”）于6月5—7日在中国西安召开。会议集自动测试专题报告、技术交流、产品展示为一体，全方位展示目前我国自动测试技术和产品的最新进展和应用。“中国自动测试路在何方？”高峰论坛和中国电子学会电子测量与仪器分会主任委员工作会议同期召开。来自全国各高等院校、科研院所、企事业单位的150多位自动测试领域知名专家、学者、工程技术人员共聚一堂，交流和探讨我国“自动测试系统”发展中共同关心的问题，并就有关工作达成了共识。
文摘TN213 97063897碲镉汞晶片少数载流子寿命面分布的自动测试技术=Automatic measurement technology for thearea distribution of the minority carrier lifetimeof HgCdTe wafer[刊,中]/龚海梅,李言谨,胡晓宁,靳秀芬,宣荣伟,朱龙源。
