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题名IC高层自动测试矢量生成算法
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作者
朱莉
林其伟
凌朝东
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机构
华侨大学信息学院
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出处
《中国集成电路》
2006年第11期61-65,共5页
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文摘
针对目前已有的高层电路模型普遍没有很好的同时体现描述的可控性和可观性,本文从时序电路RTL行为描述抽象出一种CRG电路模型。并在此模型上直接对其进行测试生成或可测试性分析等计算机辅助测试。试验表明,该模型和算法是有效的。
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关键词
电路模型
寄存器传输级
行为描述
硬件描述语言
自动测试图形生成
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Keywords
circuit model
register transfer level
behavioral description
hardware discription language
automatic test pattern generation
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分类号
TN407
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名SOC中嵌入式存储器阴影逻辑的可测性设计
被引量：2
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作者
施文龙
林伟
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机构
福州大学福建省微电子集成电路重点实验室
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出处
《电子器件》
CAS
北大核心
2012年第3期317-321,共5页
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文摘
在使用ATPG工具对集成电路进行固定故障测试时,嵌入式存储器模块被视为简单的I/O模型,ATPG工具无法传递存储器周围组合逻辑的故障。通过研究SOC的可测性设计后,针对某数字信息安全芯片设计,利用扫描设计原理,改进了其存储器周围逻辑的设计,为阴影逻辑提供了可测试路径,提高了整个芯片的测试覆盖率和故障覆盖率。分析了设计的功耗、面积,确定了设计的有效性。
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关键词
可测性设计
扫描设计
阴影逻辑
故障覆盖率
自动测试图形生成
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Keywords
DFT
scan design
shadow logic
fault coverage
ATPG
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分类号
TN47
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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