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纺织品甲醛自动化测试设备的研发
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作者 罗隐 邓成亮 +2 位作者 刘霞 朱国庆 曹文英 《纺织标准与质量》 2024年第6期53-56,共4页
为了提高检测工作的智能化水平,针对GB/T 2912.1中的甲醛测试方法,研发了一套纺织品甲醛自动化测试设备。试验表明,此设备测定结果准确,与国家标准中的人工法相比,不存在显著性差异。
关键词 纺织品 甲醛 自动化测试设备 对比试验
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发动机性能自动测试设备原理及故障维修
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作者 张忠伟 乔爽 王东胜 《交通科技与经济》 2001年第4期39-41,共3页
主要阐述了发动机自动测试设备的工作原理及故障诊断与维修。
关键词 发动机 自动化测试设备 故障诊断 维修 工作原理
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面向自动化测试的模块化仪器系统
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《电子技术应用》 北大核心 2009年第10期6-8,共3页
模块化仪器系统——灵活且用户可以定制的软件和可扩展的硬件组件 设备的日趋复杂和技术的渐进融合,正驱使测试系统变得更加灵活。但成本的压力要求系统具有更长的生命周期,而测试系统更加需要考虑能够容纳设备随时间带来的各种变化... 模块化仪器系统——灵活且用户可以定制的软件和可扩展的硬件组件 设备的日趋复杂和技术的渐进融合,正驱使测试系统变得更加灵活。但成本的压力要求系统具有更长的生命周期,而测试系统更加需要考虑能够容纳设备随时间带来的各种变化。实现这些目标的唯一方式便是采用一种软件定义的模块化架构。本文将通过虚拟仪器系统引入软件定义的概念,为硬件平台和软件实现提供多种选择,并讨论模块化仪器系统是如何满足自动化测试设备(ATE)的要求。 展开更多
关键词 自动化测试设备 虚拟仪器系统 模块化 软件定义 测试系统 硬件平台 生命周期 软件实现
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火控数传接收机自动检测设备的设计
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作者 叶玮 郑守铎 温瑞珩 《火炮发射与控制学报》 北大核心 2007年第4期55-58,共4页
介绍了数传接收机自动检测设备的设计。根据对被测对象的测试需求分析,所有测试资源均采用GPIB程控仪器设备;火力系统模拟器用于模拟产生火炮送给数传接收机的各类反映火炮设计参数的模拟信号;测试资源的调度管理、测试过程的控制、测... 介绍了数传接收机自动检测设备的设计。根据对被测对象的测试需求分析,所有测试资源均采用GPIB程控仪器设备;火力系统模拟器用于模拟产生火炮送给数传接收机的各类反映火炮设计参数的模拟信号;测试资源的调度管理、测试过程的控制、测试数据的管理和被测对象的故障诊断都是靠软件实现的。该设备采用了硬件平台、软件平台和故障诊断平台的模式,具有自动化程度高、通用性和扩展性强等优点,重点介绍了设备故障诊断的方法。应用该设备可以完成对数传接收机的出厂调试和修理厂定检维修等功能。 展开更多
关键词 信息处理技术 数传接收机 自动化测试设备 脉冲信号源 故障诊断
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一种通用机载嵌入式计算机测试设备设计 被引量:2
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作者 陈思宇 陈雪 《航空计算技术》 2018年第4期109-111,共3页
在对机载嵌入式计算机组成结构进行分析总结的基础上,利用工业控制计算机和标准扩展板卡组成了一套通用机载嵌入式计算机自动化测试设备,通过标准测试集实现了规范化测试,在有效降低测试成本的同时,保证了测试结果的准确性。
关键词 机载嵌入式计算机 自动化测试设备 标准测试
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浅析武器系统测试设备的通用化
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作者 李全宇 《航天工业管理》 2006年第1期17-18,共2页
关键词 自动化测试设备 武器系统 通用化 现代科学技术 现代战争 专用性
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基于FPGA的FLASH存储器三温功能测试系统设计 被引量:2
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作者 侯晓宇 郭贺 常艳昭 《现代电子技术》 北大核心 2024年第4期39-42,共4页
由于大容量FLASH存储器全地址功能测试时间较长,在自动化测试设备(ATE)上进行高低温测试时,长时间使用热流罩会导致测试设备运行异常。为把存储器测试过程中耗时最长的全地址功能测试部分从ATE机台上分离出来,设计一个基于FPGA的驱动板... 由于大容量FLASH存储器全地址功能测试时间较长,在自动化测试设备(ATE)上进行高低温测试时,长时间使用热流罩会导致测试设备运行异常。为把存储器测试过程中耗时最长的全地址功能测试部分从ATE机台上分离出来,设计一个基于FPGA的驱动板卡,结合MSCAN和Checkerboard算法实现了对被测芯片激励信号的施加;然后,设计一个12工位的驱动板卡,实现了在三温条件下的多芯片同步测试;接着,设计一个基于Qt的上位机软件,实现了对测试结果的实时显示与存储;最后,对2 GB大容量FLASH存储器进行测试验证。测试结果表明,与传统的ATE测试相比,基于驱动板和工位板的测试系统可实现对大容量FLASH的全地址功能的高低温测试,且工位板具有的高可扩展性可实现多芯片的同步测试,大幅提高了测试效率。 展开更多
关键词 FPGA FLASH存储器 三温测试 自动化测试设备 MSCAN 多工位测试
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半导体测试设备联盟机构STC力推外围接口标准化工作
8
《电子工业专用设备》 2007年第7期44-44,共1页
半导体测试联盟(Semiconductor Test Consortium,STC)日前宣布,其为推动自动化测试设备(ATE)外围接口标准发展采取的一项全新的举措,目前已经取得较大进展。这一被称为半导体测试外围接口延伸(Semiconductor Test Interface eXt... 半导体测试联盟(Semiconductor Test Consortium,STC)日前宣布,其为推动自动化测试设备(ATE)外围接口标准发展采取的一项全新的举措,目前已经取得较大进展。这一被称为半导体测试外围接口延伸(Semiconductor Test Interface eXtensions,以下简称STIX)的项目旨在解决ATE日趋增加的成本和效率瓶颈等问题。 展开更多
关键词 自动化测试设备 半导体测试 接口标准 联盟 STC 化工 机构 外围接口
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测试成本的挑战及对策 被引量:8
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作者 章慧彬 《电子与封装》 2018年第5期5-7,11,共4页
集成电路制造流程极其复杂,包括设计、制造、封装、测试、可靠性等,每个环节都极易引入缺陷,因此每一件半导体产品在交付客户之前都必须经过极为严苛的测试过程,以排除任何可能的缺陷。大量的测试需求使得测试成本越来越高。寻求一种测... 集成电路制造流程极其复杂,包括设计、制造、封装、测试、可靠性等,每个环节都极易引入缺陷,因此每一件半导体产品在交付客户之前都必须经过极为严苛的测试过程,以排除任何可能的缺陷。大量的测试需求使得测试成本越来越高。寻求一种测试方法既能保证芯片质量和可靠性,又能有效控制测试成本,是当前降低测试成本面临的主要挑战。从测试经济学、集成电路产业链发展对测试成本的影响以及可测性设计技术三个方面,介绍了测试成本的挑战和应对措施。 展开更多
关键词 测试成本 自动化测试设备 可测性设计 内建自测试
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爱德万测试为客户提供高品质的半导体产品、技术和成熟的测试方案——访爱德万测试业务战略发展高级总监陆亚奇先生和业务发展经理Martin Dresler
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作者 王喜莲 《中国集成电路》 2015年第4期25-26,共2页
半导体产业工艺日新月异,测试与量测技术的重要性也大幅提升,由于日前多芯片、多核心、甚至整个系统整合于单一芯片所衍生的复杂性,使得工艺难度已不可同日而语,成本也相对随之升高,因此半导体厂商积极寻求低成本高效能的自动化测... 半导体产业工艺日新月异,测试与量测技术的重要性也大幅提升,由于日前多芯片、多核心、甚至整个系统整合于单一芯片所衍生的复杂性,使得工艺难度已不可同日而语,成本也相对随之升高,因此半导体厂商积极寻求低成本高效能的自动化测试设备作为应对策略。爱德万测试作为全球半导体产业最大的自动化测试设备(ATE)供应商。努力为客户提供最具成本竞争力的解决方案,在技术研发、产品商业化、安装与服务等方面所做的努力,亦备受全球半导体大厂一致肯定。 展开更多
关键词 半导体产品 测试方案 量测技术 业务发展 客户 自动化测试设备 半导体产业 品质
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国产化高可靠多路绝缘电阻测试仪 被引量:5
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作者 尹刚 《航天控制》 CSCD 北大核心 2005年第4期60-63,78,共5页
国产化高可靠多路绝缘电阻测试仪是采用单片机87C51控制技术设计的新一代高质量产品,属于多路点对点之间绝缘电阻检测的通用自动化测试设备。本产品在可靠性、电磁兼容性等方面经过了全面而严格的试验验证,满足了航天工业标准方面的严... 国产化高可靠多路绝缘电阻测试仪是采用单片机87C51控制技术设计的新一代高质量产品,属于多路点对点之间绝缘电阻检测的通用自动化测试设备。本产品在可靠性、电磁兼容性等方面经过了全面而严格的试验验证,满足了航天工业标准方面的严格要求。它不但适用于航天领域各种武器及运载工具的自动化测控系统,也适用于其它工业自动化测控领域。 展开更多
关键词 测试 通用 自动化测试设备
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一种优化芯片测试时间的方法 被引量:4
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作者 许梦龙 鲁小妹 赵来钖 《集成电路应用》 2020年第2期39-41,共3页
为了减少芯片测试时间,降低芯片测试成本,介绍一种基于智能卡芯片的测试时间优化的方法。通过分析大生产的测试数据,对测试流程、测试程序以及测试向量进行优化,在保证质量的前提下,对测试项进行优化,提高测试效率,测试时间减少19.623%... 为了减少芯片测试时间,降低芯片测试成本,介绍一种基于智能卡芯片的测试时间优化的方法。通过分析大生产的测试数据,对测试流程、测试程序以及测试向量进行优化,在保证质量的前提下,对测试项进行优化,提高测试效率,测试时间减少19.623%,从而有效降低成本,提高生产能力。 展开更多
关键词 集成电路制造 测试成本 流程优化 芯片测试 自动化测试设备
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智能变电站二次系统测试及性能评价关键技术研究及应用 被引量:1
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作者 滕予非 王大兴 林波 《安装》 2023年第S01期184-185,共2页
一、成果研究背景国内外对智能变电站二次系统测试技术方面的研究主要集中在某个测试项的自动化测试方法研究与自动化测试设备研制方面,未对目前应用于现场的测试方法进行详细的讨论与分析。现有研究点主要针对二次系统功能整组测试,对... 一、成果研究背景国内外对智能变电站二次系统测试技术方面的研究主要集中在某个测试项的自动化测试方法研究与自动化测试设备研制方面,未对目前应用于现场的测试方法进行详细的讨论与分析。现有研究点主要针对二次系统功能整组测试,对于设备极端、异常运行条件下的测试研究较少. 展开更多
关键词 智能变电站二次系统 异常运行 自动化测试设备 性能评价 测试方法 讨论与分析
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一种基于ATE的反熔丝FPGA的测试方法 被引量:1
14
作者 李岱林 陈诚 《电子质量》 2020年第12期28-32,共5页
该文首先介绍了反熔丝FPGA(Field-Programmable Gate Array,现场可编程逻辑门阵列)的典型结构,分析了传统反熔丝FPGA测试面临的难点,提出了一种基于ATE(Automatic Test Equipment,自动化测试设备)的反熔丝FPGA的测试方法。测试结果表明... 该文首先介绍了反熔丝FPGA(Field-Programmable Gate Array,现场可编程逻辑门阵列)的典型结构,分析了传统反熔丝FPGA测试面临的难点,提出了一种基于ATE(Automatic Test Equipment,自动化测试设备)的反熔丝FPGA的测试方法。测试结果表明,该测试方法可以有效地解决反熔丝FPGA的测试难题。 展开更多
关键词 反熔丝 现场可编程逻辑门阵列 自动化测试设备 测试方法
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基于FPGA和LabWindows的音频DAC测试方案开发与实现 被引量:1
15
作者 王兵 王美娟 汪芳 《电声技术》 2023年第4期150-153,共4页
电子设备集成度的提高对于音频集成电路生产和测试等环节的要求越来越高,尤其是音频数模转换器(Digital to Analog Converter,DAC),本质上为数模混合信号电路,采用数模混合信号自动化测试设备(Automatic Test Equipment,ATE)价格昂贵,... 电子设备集成度的提高对于音频集成电路生产和测试等环节的要求越来越高,尤其是音频数模转换器(Digital to Analog Converter,DAC),本质上为数模混合信号电路,采用数模混合信号自动化测试设备(Automatic Test Equipment,ATE)价格昂贵,而采用传统自动测试仪测试覆盖率低、测试时间长,导致这类电路的测试成本较高且测试产能不足。介绍了一种基于现场可编程门阵列(Field Programmable Gate Array,FPGA)和LabWindows的音频DAC电路测试方案,硬件上用FPGA实现音频测试所需的直接数字频率合成(Direct Digital Frequency Synthesizers,DDFS)模块,软件上通过运用LabWindows自带的采样、加窗、快速傅里叶变换(Fast Fourier Transform,FFT)等数字信号处理函数,快速准确地测试各项模拟参数,并在用户界面(User Interface,UI)显示测试值和后台保存测试数据。 展开更多
关键词 音频数模转换器(DAC)测试 LABWINDOWS 现场可编程门阵列(FPGA) 直接数字频率合成(DDFS) 自动化测试设备(ATE) 数字信号处理
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虚拟仪器技术已成为测试行业的主流技术
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《化学分析计量》 CAS 2012年第3期103-103,共1页
如今在测试应用中使用虚拟仪器技术已成为主流。绝大多数测试行业已接受虚拟仪器技术的概念,或者倾向于采用虚拟仪器技术。例如,具有代表性的美国军方虽然不是技术趋势的领导者,但也在广泛地使用虚拟仪器技术。作为世界上最大的ATE... 如今在测试应用中使用虚拟仪器技术已成为主流。绝大多数测试行业已接受虚拟仪器技术的概念,或者倾向于采用虚拟仪器技术。例如,具有代表性的美国军方虽然不是技术趋势的领导者,但也在广泛地使用虚拟仪器技术。作为世界上最大的ATE(自动化测试设备)独立用户,美国国防部已在他们所推动的综合性仪器中采用了基于软件的仪器概念。 展开更多
关键词 虚拟仪器技术 测试应用 流技术 行业 自动化测试设备 美国国防部 美国军方 领导者
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V6000:闪存及DRAM测试系统
17
《世界电子元器件》 2009年第1期57-57,共1页
惠瑞捷宣布推出V6000测试系统,可在同一套自动化测试设备(ATE)机台上,测试快闪和DRAM内存,测试成本低于现有的解决方案。V6000可调整适用于半导体内存的各个测试阶段,包括工程测试、晶圆检测(Wafer Sort)、以及终程测试(Final ... 惠瑞捷宣布推出V6000测试系统,可在同一套自动化测试设备(ATE)机台上,测试快闪和DRAM内存,测试成本低于现有的解决方案。V6000可调整适用于半导体内存的各个测试阶段,包括工程测试、晶圆检测(Wafer Sort)、以及终程测试(Final Test)等。 展开更多
关键词 V6000 测试系统 DRAM 自动化测试设备 闪存 测试阶段 工程测试 成本低
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长电科技向Eagle Test Systems购买多种测试平台用于扩大生产
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作者 本刊通讯员 《电子与封装》 2008年第9期46-46,共1页
Eagle Test Systems,Inc.面向半导体行业设计、生产、销售和维修高性能的自动化测试设备。7月19日宣布,半导体封装测试服务的全球供应商及中国境内领先的转包合同制造商江苏长电科技股份有限公司(简称“长电科技”)造商江苏长电科技... Eagle Test Systems,Inc.面向半导体行业设计、生产、销售和维修高性能的自动化测试设备。7月19日宣布,半导体封装测试服务的全球供应商及中国境内领先的转包合同制造商江苏长电科技股份有限公司(简称“长电科技”)造商江苏长电科技股份有限公司(简称“长电科技”)(上海股票交易所股票代码:600584)已为其新的生产厂购买了多台Eagle ETS-200和ETS-364模拟和混合信号测试仪,该新厂位于上海以西约150公里处的江阴市。 展开更多
关键词 SYSTEMS EAGLE 扩大生产 科技 测试平台 自动化测试设备 股票交易所 半导体行业
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Gartner预测今年半导体设备市场可望成长40%
19
《集成电路应用》 2004年第5期34-34,共1页
关键词 半导体设备 晶圆处理设备 自动化测试设备 封装设备 市场
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先进的测试平台简化多总线器件测试
20
作者 Mike Kondrat 《电子工业专用设备》 2004年第2期57-58,65,共3页
关键词 测试平台 多总线器件 自动化测试设备 多时钟域 SOC测试系统
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