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车辆灯光系统光学性能自动化测试仪器的研究 被引量:5
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作者 张铁强 郭山河 +1 位作者 申铉京 申铉国 《仪器仪表学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1995年第2期208-211,共4页
车辆灯光系统光学性能自动化测试仪器的研究张铁强,郭山河,申铉京,申铉国(吉林工业大学应用物理系)0引言车辆灯光配光性能的好坏直接关系到车辆和人身安全。近年来,发达国家以法令形式规定汽车必须采用防眩目前照灯,并对车灯的... 车辆灯光系统光学性能自动化测试仪器的研究张铁强,郭山河,申铉京,申铉国(吉林工业大学应用物理系)0引言车辆灯光配光性能的好坏直接关系到车辆和人身安全。近年来,发达国家以法令形式规定汽车必须采用防眩目前照灯,并对车灯的光型提出具体要求。我国也对车灯配光... 展开更多
关键词 车辆灯光系统 光学系统 自动化测试仪器
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第四届国际自动化测试与仪器仪表学术会议会议通知(英文)
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《电子测量技术》 2011年第11期7-8,共2页
The International Symposium on Test Automation and Instrumentation (ISTAI) is sponsored by China Instrumentation & Control Society (CIS) and Beijing Information Science and Technology University. It is world's p... The International Symposium on Test Automation and Instrumentation (ISTAI) is sponsored by China Instrumentation & Control Society (CIS) and Beijing Information Science and Technology University. It is world's premier international symposium for automated test, control and instrumentation, 展开更多
关键词 “第四届国际自动化测试仪器仪表学术会议” 会议通知 电子测量技术 ISTAI
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DFT时代的ATE结构——多端口ATE 被引量:2
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作者 Masaharu Goto Klaus-Dieter Hilliges 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2003年第6期41-43,共3页
在单颗硅芯片上设计更多系统功能(SOC)的趋势,增加了IC的开发与制造测试的复杂度。未来对于较高速度与较多管脚数的需求,将使传统的自动化测试仪器(ATE)变得非常昂贵。为了减轻开发工作的负担及降低制造测试的成本,不得不寻求知识产权(... 在单颗硅芯片上设计更多系统功能(SOC)的趋势,增加了IC的开发与制造测试的复杂度。未来对于较高速度与较多管脚数的需求,将使传统的自动化测试仪器(ATE)变得非常昂贵。为了减轻开发工作的负担及降低制造测试的成本,不得不寻求知识产权(IP)的再利用与可测试性设计(DFT)技术。本文介绍一种新的多端口ATE结构,它是为基于IP的测试开发与执行而设计的。这种结构提供刚好足够的能力来测试芯片,以降低ATE的资本成本,并广泛使用平行测试来提高产能。 展开更多
关键词 DFT 多端口ATE结构 自动化测试仪器 测试性设计 芯片测试
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