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相变光盘的膜层计算与分析
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作者 鲍海飞 叶水驰 +1 位作者 张军 王骐 《哈尔滨工业大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1997年第5期55-58,69,共5页
利用光学矩阵,计算了记录介质为Te4GeSb2四层膜系相变光盘的光学特性参数(如反射率、透射率)及对比度与各层膜厚的关系,给出了理想的膜层厚度值,并分析了各层介质的特性及作用。
关键词 相变光盘 膜层计算 记录介质 光盘
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