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能量过滤透射电子显微学的发展与现状被引量：5: 1; 作者陈鑫峰王泽朝钟虓 《电子显微学报》 CAS CSCD 北大核心 2018年第5期540-548,共9页; 在原子尺度上探测材料的结构、成分、键合和自旋等信息,对于预测和调控材料性能意义重大。能量过滤透射电子显微术可实现化学键面分布测量获得材料界面处的物相分布和化学键合信息,并结合断层成像实现三维尺度解析材料界面元素分布。但... 展开更多; 关键词能量过滤透射电子显微术空间分辨电子能量损失谱原子面分辨电子磁圆二色谱化学键面分布测量电子断层成像; 在线阅读下载PDF 职称材料

应用与透射电子显微术相结合的电子能量损失谱(EELS)测定矿物中Ce和Fe的氧化态(英文): 2; 作者徐惠芳《高校地质学报》 CAS CSCD 2000年第2期137-144,共8页; 在透射电子显微镜 (TEM )中 ,与样品发生弹性散射的高能电子可被用于成像和产生选区电子衍射 (SAED) ,它们能提供关于样品结构的重要信息。高分辨透射电子显微镜 (HRTEM )由于它具有高的空间分辨率 ,因而可以在原子的尺度上来研究样品... 展开更多; 关键词电子能量损失谱透射电子显微术铈铁矿物分析; 在线阅读下载PDF 职称材料

空间分辨电子能量损失谱对合金高温氧化的研究: 3; 作者胡学让袁俊《电子显微学报》 CAS CSCD 2005年第4期291-291,共1页; 关键词电子能量损失谱空间分辨高温氧化透射电子显微镜合金 FILTER EELS 能量色散过滤系统; 在线阅读下载PDF 职称材料

基于EFTEM技术测定单晶SrTiO_(3)的电子非弹性平均自由程: 4; 作者刘曦蒋仁辉 +5 位作者王怀远吴姗姗郑赫赵培丽贾双凤王建波《电子显微学报》 CAS CSCD 北大核心 2023年第4期441-448,共8页; 材料的电子非弹性平均自由程(λ)是描述电子在材料中的输运性质的重要参数。然而通过实验技术直接获取材料的λ较为困难。本文介绍了一种基于EFTEM实验技术获取SrTiO_(3)单晶λ的方法:(1)采用聚焦离子束(FIB)技术制备了具有梯度厚度(100... 展开更多; 关键词 SrTiO_(3) 电子非弹性平均自由程厚度测量能量过滤透射电子显微技术透射电子显微学; 在线阅读下载PDF 职称材料

利用能量过滤TEM获取外延量子点的成分信息(英文) 被引量：1: 5; 作者廖晓舟邹进蒋最敏《电子显微学报》 CAS CSCD 2006年第3期208-213,共6页; 半导体量子点应用于许多关键的现代科学技术中。量子点的尺寸和成分对决定量子点光电性质十分重要。由于量子点的尺寸很小,表征量子点的成分及其分布是一项很有挑战性的任务。本文综述了能量过滤透射电子显微术如何应用于量子点成分的... 展开更多; 关键词半导体量子点光电性质透射电子显微术电子能量损失谱; 在线阅读下载PDF 职称材料

JEM-2010 FEF-TEM对纳米材料显微结构的研究: 6; 作者牟诗城魏玉顺 +1 位作者于海翔刘肇萌《电子显微学报》 CAS CSCD 2005年第4期258-258,共1页; 关键词纳米材料显微结构金纳米颗粒透射电子显微镜结构特征尺寸分布能量过滤 SiO2 微颗粒; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名能量过滤透射电子显微学的发展与现状被引量：5: 1; 作者陈鑫峰王泽朝钟虓; 机构北京电子显微镜中心先进材料教育部重点实验室新型陶瓷和精细工艺国家重点实验室材料学院清华大学; 出处《电子显微学报》 CAS CSCD 北大核心 2018年第5期540-548,共9页; 基金国家重点研发计划(No.2016YFB0700402) 国家自然科学基金资助项目(Nos.51761135131 +4 种基金 51671112 51471096 51390471) 教育部重点实验室基金资助项目(No.2018AML12); 文摘在原子尺度上探测材料的结构、成分、键合和自旋等信息,对于预测和调控材料性能意义重大。能量过滤透射电子显微术可实现化学键面分布测量获得材料界面处的物相分布和化学键合信息,并结合断层成像实现三维尺度解析材料界面元素分布。但较之于扫描透射电子显微术模式下电子能量损失谱技术,能量过滤透射电子显微术的空间分辨率和能量分辨率较差。基于能量过滤透射电子显微术的空间分辨电子能量损失谱技术,结合色差校正技术可获得原子面分辨电子能量损失谱与原子面分辨电子磁圆二色谱,克服了传统能量过滤透射电子显微术空间分辨率和能量分辨率较低的瓶颈。由于其实现了自旋构型原子尺度成像,在当今材料科学基础研究中具有重大的科学意义,对于在原子尺度理解自旋、晶格、电荷和轨道等多个自由度的结构参量与材料磁性能之间的相互关联有重要意义,在设计制造高密度、低功耗、快速的存储器件,推进信息与通讯技术方面有广阔的应用前景。; 关键词能量过滤透射电子显微术空间分辨电子能量损失谱原子面分辨电子磁圆二色谱化学键面分布测量电子断层成像; Keywords energy-filtered transnfission electron nfieroscopy spatially-resolved electron energy- loss spectroscopy atonfie-planeresolved electron magnetic circular diehroism chemical bond imaging eleeton tomgraphy; 分类号 TN16 [电子电信—物理电子学] TG115.215.3 [金属学及工艺—物理冶金]; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名应用与透射电子显微术相结合的电子能量损失谱(EELS)测定矿物中Ce和Fe的氧化态(英文): 2; 作者徐惠芳; 机构美国新墨西哥大学地球与行星科学系; 出处《高校地质学报》 CAS CSCD 2000年第2期137-144,共8页; 基金中国国家自然科学基金资助项目美国NSF,NASA资助新墨西哥州资助课题; 文摘在透射电子显微镜 (TEM )中 ,与样品发生弹性散射的高能电子可被用于成像和产生选区电子衍射 (SAED) ,它们能提供关于样品结构的重要信息。高分辨透射电子显微镜 (HRTEM )由于它具有高的空间分辨率 ,因而可以在原子的尺度上来研究样品的结构和微结构 (或织构 )。此外 ,TEM中入射的高能电子还经历了与样品的非弹性相互作用 ,它可以提供关于样品的化学和电子结构的进一步信息。据此 ,以TEM中的X射线能量色散谱学 (EDS)和电子能量损失谱学 (EELS)为基础 ,产生了分析电子显微术 (AEM )。其中EELS能够提供有关样品的诸如定量化学分析 (包括除氢以外的所有元素 )、氧化态、配位、结晶度以及化学键合类型等有价值的信息。HRTEM与EELS结合的研究则能从纳米尺度上提供关于矿物反应的微结构和微化学信息。应用以M4 和M5边的电子能量损失近边结构 (ELNES)为基础的EELS ,研究了被建议作为放射性废料寄主相的烧绿石中Ce的氧化态。与Ce3+ 相比 ,Ce4 + 的M4 和M5边具有较高的能量损失。M4 与M5边之间以及它们之后的弱峰之间的强度比可用于Ce3+ 与Ce4 + 的定量分析。在内蒙所产烧绿石矿物的颗粒 ,其未蚀变区的EELS数据指示出有Ce3+ 及其他稀士元素。然而由相邻蚀变区得出的EELS光谱则显示为Ce4 + 、Ba及其他稀土元素。; 关键词电子能量损失谱透射电子显微术铈铁矿物分析; Keywords electron energy-loss spectroscopy (EELS), tran smission electron microscopy(TEM), oxidation states of Ce, oxidation states of F e; 分类号 P575.2 [天文地球—矿物学] P578.12 [天文地球—矿物学]; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名空间分辨电子能量损失谱对合金高温氧化的研究: 3; 作者胡学让袁俊; 机构清华大学材料系; 出处《电子显微学报》 CAS CSCD 2005年第4期291-291,共1页; 关键词电子能量损失谱空间分辨高温氧化透射电子显微镜合金 FILTER EELS 能量色散过滤系统; 分类号 TG115 [金属学及工艺—物理冶金]; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名基于EFTEM技术测定单晶SrTiO_(3)的电子非弹性平均自由程: 4; 作者刘曦蒋仁辉王怀远吴姗姗郑赫赵培丽贾双凤王建波; 机构武汉大学物理科学与技术学院武汉大学深圳研究院武汉大学科研公共服务条件平台; 出处《电子显微学报》 CAS CSCD 北大核心 2023年第4期441-448,共8页; 基金国家自然科学基金资助项目(Nos.52071237,12074290,51871169,52101021,12104345) 湖北省青年拔尖人才计划 +1 种基金深圳市科创委基础研究面上项目(No.JCYJ20190808150407522).; 文摘材料的电子非弹性平均自由程(λ)是描述电子在材料中的输运性质的重要参数。然而通过实验技术直接获取材料的λ较为困难。本文介绍了一种基于EFTEM实验技术获取SrTiO_(3)单晶λ的方法:(1)采用聚焦离子束(FIB)技术制备了具有梯度厚度(100~800 nm)的SrTiO_(3)截面样品I,并利用EFTEM得到SrTiO_(3)薄片各个阶梯区域t与λ的比值a;(2)利用FIB将截面样品Ⅰ进行二次加工得到截面样品II,并利用透射电子显微技术(TEM)直接测量各个梯度区域的t,λ即为t与a的比值。实验中测得单晶SrTiO_(3)<001>和<110>方向的λ分别为124.7 nm和120.7 nm。研究结果对利用EFTEM技术测量λ具有重要的指导意义。; 关键词 SrTiO_(3) 电子非弹性平均自由程厚度测量能量过滤透射电子显微技术透射电子显微学; Keywords SrTiO_(3) electron inelastic mean free path thickness measurement energy filtration transmission electron microscopy transmission electron microscopy; 分类号 TG115.215.3 [金属学及工艺—物理冶金] O766.1 [理学—晶体学] O799 [理学—晶体学] O722.4 [理学—晶体学] O739 [理学—晶体学] TN16 [电子电信—物理电子学]; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名利用能量过滤TEM获取外延量子点的成分信息(英文) 被引量：1: 5; 作者廖晓舟邹进蒋最敏; 机构 Electron Microscopy Core Facility(电子显微镜中心实验室) School of Engineering and Centre for Microscopy and Microanalysis(工学院及电子显微和微分析中心) Applied Surface Physics Laboratory(National Key Laboratory)(应用表面物理国家实验室); 出处《电子显微学报》 CAS CSCD 2006年第3期208-213,共6页; 文摘半导体量子点应用于许多关键的现代科学技术中。量子点的尺寸和成分对决定量子点光电性质十分重要。由于量子点的尺寸很小,表征量子点的成分及其分布是一项很有挑战性的任务。本文综述了能量过滤透射电子显微术如何应用于量子点成分的研究。; 关键词半导体量子点光电性质透射电子显微术电子能量损失谱; Keywords semiconductor quantum dot opto-electronic property transmission electron microscopy electron energy loss spectrum; 分类号 O471.1 [理学—半导体物理] O766.1 [理学—晶体学]; 在线阅读下载PDF 职称材料

题名JEM-2010 FEF-TEM对纳米材料显微结构的研究: 6; 作者牟诗城魏玉顺于海翔刘肇萌; 机构国家纳米产业化基地中心试验室; 出处《电子显微学报》 CAS CSCD 2005年第4期258-258,共1页; 关键词纳米材料显微结构金纳米颗粒透射电子显微镜结构特征尺寸分布能量过滤 SiO2 微颗粒; 分类号 TB383 [一般工业技术—材料科学与工程] TB43 [一般工业技术]; 在线阅读下载PDF 职称材料

	题名	作者	出处	发文年	被引量	操作
1	能量过滤透射电子显微学的发展与现状	陈鑫峰王泽朝钟虓	《电子显微学报》 CAS CSCD 北大核心	2018	5	在线阅读下载PDF 职称材料
2	应用与透射电子显微术相结合的电子能量损失谱(EELS)测定矿物中Ce和Fe的氧化态(英文)	徐惠芳	《高校地质学报》 CAS CSCD	2000	0	在线阅读下载PDF 职称材料
3	空间分辨电子能量损失谱对合金高温氧化的研究	胡学让袁俊	《电子显微学报》 CAS CSCD	2005	0	在线阅读下载PDF 职称材料
4	基于EFTEM技术测定单晶SrTiO_(3)的电子非弹性平均自由程	刘曦蒋仁辉王怀远吴姗姗郑赫赵培丽贾双凤王建波	《电子显微学报》 CAS CSCD 北大核心	2023	0	在线阅读下载PDF 职称材料
5	利用能量过滤TEM获取外延量子点的成分信息(英文)	廖晓舟邹进蒋最敏	《电子显微学报》 CAS CSCD	2006	1	在线阅读下载PDF 职称材料
6	JEM-2010 FEF-TEM对纳米材料显微结构的研究	牟诗城魏玉顺于海翔刘肇萌	《电子显微学报》 CAS CSCD	2005	0	在线阅读下载PDF 职称材料