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能量过滤透射电子显微学的发展与现状 被引量:5
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作者 陈鑫峰 王泽朝 钟虓 《电子显微学报》 CAS CSCD 北大核心 2018年第5期540-548,共9页
在原子尺度上探测材料的结构、成分、键合和自旋等信息,对于预测和调控材料性能意义重大。能量过滤透射电子显微术可实现化学键面分布测量获得材料界面处的物相分布和化学键合信息,并结合断层成像实现三维尺度解析材料界面元素分布。但... 在原子尺度上探测材料的结构、成分、键合和自旋等信息,对于预测和调控材料性能意义重大。能量过滤透射电子显微术可实现化学键面分布测量获得材料界面处的物相分布和化学键合信息,并结合断层成像实现三维尺度解析材料界面元素分布。但较之于扫描透射电子显微术模式下电子能量损失谱技术,能量过滤透射电子显微术的空间分辨率和能量分辨率较差。基于能量过滤透射电子显微术的空间分辨电子能量损失谱技术,结合色差校正技术可获得原子面分辨电子能量损失谱与原子面分辨电子磁圆二色谱,克服了传统能量过滤透射电子显微术空间分辨率和能量分辨率较低的瓶颈。由于其实现了自旋构型原子尺度成像,在当今材料科学基础研究中具有重大的科学意义,对于在原子尺度理解自旋、晶格、电荷和轨道等多个自由度的结构参量与材料磁性能之间的相互关联有重要意义,在设计制造高密度、低功耗、快速的存储器件,推进信息与通讯技术方面有广阔的应用前景。 展开更多
关键词 能量过滤透射电子显微 空间分辨电子能量损失谱 原子面分辨电子磁圆二色谱 化学键面分布测量 电子断层成像
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电子能量损失谱研究钛硅分子筛中钛的存在状态 被引量:1
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作者 郑爱国 向彦娟 +3 位作者 朱斌 张进 林民 徐广通 《石油学报(石油加工)》 EI CAS CSCD 北大核心 2012年第6期991-994,共4页
利用透射电子显微技术(TEM)、X射线能谱技术(EDX)以及电子能量损失谱技术(EELS)对Ti原子是否进入到TS-1钛硅分子筛骨架进行了研究。结果表明,TS-1钛硅分子筛中存在的微量TiO2粒子的EELS信号中O-K边与Ti-L2边的能量差为70eV左右;而钛硅... 利用透射电子显微技术(TEM)、X射线能谱技术(EDX)以及电子能量损失谱技术(EELS)对Ti原子是否进入到TS-1钛硅分子筛骨架进行了研究。结果表明,TS-1钛硅分子筛中存在的微量TiO2粒子的EELS信号中O-K边与Ti-L2边的能量差为70eV左右;而钛硅分子筛(TS)粒子的EELS信号中O-K边与Ti-L2边的能量差为79eV左右。对比TiO2、TS粒子的EELS,发现TS粒子的Ti-L2、Ti-L3边与TiO2粒子的Ti-L2、Ti-L3边的能量差为1eV,这种能量差异可以作为Ti原子进入TS-1钛硅分子筛骨架的一种证明。 展开更多
关键词 钛硅分子筛(TS-1) 电子能量损失谱(EELS) 透射电子显微技术(TEM) X射线能谱技术(EDX)
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基于EFTEM技术测定单晶SrTiO_(3)的电子非弹性平均自由程
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作者 刘曦 蒋仁辉 +5 位作者 王怀远 吴姗姗 郑赫 赵培丽 贾双凤 王建波 《电子显微学报》 CAS CSCD 北大核心 2023年第4期441-448,共8页
材料的电子非弹性平均自由程(λ)是描述电子在材料中的输运性质的重要参数。然而通过实验技术直接获取材料的λ较为困难。本文介绍了一种基于EFTEM实验技术获取SrTiO_(3)单晶λ的方法:(1)采用聚焦离子束(FIB)技术制备了具有梯度厚度(100... 材料的电子非弹性平均自由程(λ)是描述电子在材料中的输运性质的重要参数。然而通过实验技术直接获取材料的λ较为困难。本文介绍了一种基于EFTEM实验技术获取SrTiO_(3)单晶λ的方法:(1)采用聚焦离子束(FIB)技术制备了具有梯度厚度(100~800 nm)的SrTiO_(3)截面样品I,并利用EFTEM得到SrTiO_(3)薄片各个阶梯区域t与λ的比值a;(2)利用FIB将截面样品Ⅰ进行二次加工得到截面样品II,并利用透射电子显微技术(TEM)直接测量各个梯度区域的t,λ即为t与a的比值。实验中测得单晶SrTiO_(3)<001>和<110>方向的λ分别为124.7 nm和120.7 nm。研究结果对利用EFTEM技术测量λ具有重要的指导意义。 展开更多
关键词 SrTiO_(3) 电子非弹性平均自由程 厚度测量 能量过滤透射电子显微技术 透射电子显微
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空间分辨电子能量损失谱对合金高温氧化的研究
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作者 胡学让 袁俊 《电子显微学报》 CAS CSCD 2005年第4期291-291,共1页
关键词 电子能量损失谱 空间分辨 高温氧化 透射电子显微 合金 FILTER EELS 能量色散 过滤系统
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JEM-2010 FEF-TEM对纳米材料显微结构的研究
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作者 牟诗城 魏玉顺 +1 位作者 于海翔 刘肇萌 《电子显微学报》 CAS CSCD 2005年第4期258-258,共1页
关键词 纳米材料 显微结构 金纳米颗粒 透射电子显微 结构特征 尺寸分布 能量过滤 SiO2 微颗粒
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