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图像处理技术的光学元件表面疵病检测 被引量:5
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作者 丁兵兵 匡珍春 +1 位作者 王军民 何小山 《激光杂志》 CAS 北大核心 2022年第11期31-35,共5页
提出基于图像处理技术的光学元件表面疵病检测方法,旨在提高光学元件表面疵病检测精度。采用背景校正算法去除图像噪声并均匀补偿背景,通过的自适应阈值法分割疵病目标区域,结合图像梯度信息,改善最大类间方差法局限性,使用外接矩形法... 提出基于图像处理技术的光学元件表面疵病检测方法,旨在提高光学元件表面疵病检测精度。采用背景校正算法去除图像噪声并均匀补偿背景,通过的自适应阈值法分割疵病目标区域,结合图像梯度信息,改善最大类间方差法局限性,使用外接矩形法刻画分割得到疵病目标区域尺寸,实现光学元件表面疵病检测。实验证明:该方法校正后的疵病图像背景均匀性较好,且未出现图像细节大量丢失情况,抗噪能力强;能够判断疵病形状,划分麻点和划痕类疵病,光学元件表面疵病检测效果好。 展开更多
关键词 图像处理技术 表面疵病 图像形态学 背景校正算法
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