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基于电路故障预测的高速老化感应器
被引量：
3
1
作者
王超
徐辉
+1 位作者
黄正峰
易茂祥
《合肥工业大学学报（自然科学版）》
CAS
CSCD
北大核心
2013年第12期1447-1450,共4页
CMOS集成电路中由负温度不稳定性效应引起的老化已经严重威胁电路的可靠性,在一些安全关键领域的数字电路系统中老化问题尤为突出,而片上在线老化感应器是有效解决方案。文章提出了一种适应高速芯片使用的新老化感应器,通过利用感应器...
CMOS集成电路中由负温度不稳定性效应引起的老化已经严重威胁电路的可靠性,在一些安全关键领域的数字电路系统中老化问题尤为突出,而片上在线老化感应器是有效解决方案。文章提出了一种适应高速芯片使用的新老化感应器,通过利用感应器中稳定检测器的空闲时序,使其具有较好性能和更小的面积开销。在45nm工艺下仿真表明,新结构非常有效。
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关键词
负偏置温度不稳定性
电路
老化
老化感应器
故障预测
可靠性
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职称材料
题名
基于电路故障预测的高速老化感应器
被引量：
3
1
作者
王超
徐辉
黄正峰
易茂祥
机构
合肥工业大学电子科学与应用物理学院
合肥工业大学计算机与信息学院
出处
《合肥工业大学学报（自然科学版）》
CAS
CSCD
北大核心
2013年第12期1447-1450,共4页
基金
国家自然科学基金资助项目(61371025)
国家自然科学青年基金资助项目(61106038)
文摘
CMOS集成电路中由负温度不稳定性效应引起的老化已经严重威胁电路的可靠性,在一些安全关键领域的数字电路系统中老化问题尤为突出,而片上在线老化感应器是有效解决方案。文章提出了一种适应高速芯片使用的新老化感应器,通过利用感应器中稳定检测器的空闲时序,使其具有较好性能和更小的面积开销。在45nm工艺下仿真表明,新结构非常有效。
关键词
负偏置温度不稳定性
电路
老化
老化感应器
故障预测
可靠性
Keywords
negative bias temperature instability（NBTI）
circuit aging
aging sensor
failure prediction
reliability
分类号
TP306.2 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
基于电路故障预测的高速老化感应器
王超
徐辉
黄正峰
易茂祥
《合肥工业大学学报（自然科学版）》
CAS
CSCD
北大核心
2013
3
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参考文献
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