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《中国光学》 EI CAS 2003年第5期92-92,共1页
TP274 3 2003053902强反射复杂表面随机缺陷检测照明系统分析=Illuminationsystem for detecting random defects on strongly reflectiveand complex surfaces[刊,中]/曲兴华(天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室.天津(300072))... TP274 3 2003053902强反射复杂表面随机缺陷检测照明系统分析=Illuminationsystem for detecting random defects on strongly reflectiveand complex surfaces[刊,中]/曲兴华(天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室.天津(300072)),何滢…//光学学报.—2003,23(5).—547-551分析了采用CCD光电检测法对强反射复杂表面随机缺陷进行检测时的光学照明问题。给出了缺陷显现力的具体定义。 展开更多
关键词 复杂表面 强反射光 均匀散射光 系统分析 缺陷检测 测试技术 缺陷显现力 光电检测 国家重点实验室 检测时
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