期刊文献+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
共找到1篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
已选择0条
导出题录 引用分析
参考文献
引证文献
 统计分析
检索结果
已选文献
显示方式：
融合双层技术结构与综合特征评估的关键核心技术识别——以数控机床领域为例 被引量：2
1
作者 高道斌 陈悦 +2 位作者 韩盟 李志杰 张彪 《情报杂志》 北大核心 2025年第2期82-91,共10页
[研究目的]提出一种融合双层技术结构与综合特征评估体系的关键核心技术识别方法,以丰富面向关键核心技术的识别体系与方法,为技术管理与决策工作提供切实、有效的方法支撑。[研究方法]在对关键核心技术概念与特征进行分析与梳理的基础... [研究目的]提出一种融合双层技术结构与综合特征评估体系的关键核心技术识别方法,以丰富面向关键核心技术的识别体系与方法,为技术管理与决策工作提供切实、有效的方法支撑。[研究方法]在对关键核心技术概念与特征进行分析与梳理的基础上,通过构建技术子领域与技术主题重要性综合分析指标识别核心技术子领域-主题,实现对核心技术的双层次解析;构建融入累积投入性、领域通用性、市场与技术价值性的关键核心技术特征评估体系,进一步对核心技术子领域-主题是否为关键核心技术进行判别。以数控机床领域为例进行实证应用,同时从技术与政策角度对结果进行了分析与验证。[研究结果/结论]共识别我国数控机床领域关键核心技术7项,分别为B23Q-主轴控制技术、B23Q-自动化机械手技术等。综合分析结果表明,该文所提方法能够有效识别具备较高综合价值的关键核心技术,赋予识别结果更加客观的语义信息,具备较好可解释性,同时,兼顾反映技术通用性与投入性,能够较好折射关键核心技术本质特征。 展开更多
关键词 关键核心技术 技术识别 专利数据 综合特征评估 双层技术结构 数控机床
在线阅读 下载PDF
已选择0条
导出题录 引用分析
参考文献
引证文献
 统计分析
检索结果
已选文献
上一页 1 下一页 到第 页
关于我们 | 版权声明 | 联系我们 | 帮助中心| 意见反馈
主办单位：上海市教育委员会
技术支持：重庆维普资讯有限公司
渝公网安备 50019002500403号
使用帮助 返回顶部