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环氧/碳化硅涂覆环氧树脂直流沿面闪络特性
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作者 张健 刘贺千 +5 位作者 高禾 李中原 杨洪达 张朋 王磊 李枕 《电机与控制学报》 北大核心 2025年第4期45-53,共9页
针对干式空心电抗器在电力系统中抑制电网电压波形畸变和表面电荷积聚引发的沿面闪络对材料绝缘特性破坏的关键问题,表面涂覆被广泛应用于改善材料的绝缘性能。本文研究了不同含量的环氧/碳化硅(EP/SiC)涂料对EP表面电荷积聚特性及沿面... 针对干式空心电抗器在电力系统中抑制电网电压波形畸变和表面电荷积聚引发的沿面闪络对材料绝缘特性破坏的关键问题,表面涂覆被广泛应用于改善材料的绝缘性能。本文研究了不同含量的环氧/碳化硅(EP/SiC)涂料对EP表面电荷积聚特性及沿面闪络特性的影响。通过表面电位衰减测试(SPD),表面电导及沿面闪络电压等实验测试,探究了其电学特性变化。研究表明,SiC粒子主要控制EP中的浅陷阱,SiC含量越多,浅陷阱密度越高、能级越低,表面电荷越容易消散。添加SiC粒子后,浅陷阱能级和密度均发生改变,在二者的作用下,电荷在试样表面沉积量明显减少,随着表面电荷积聚量减少,电场畸变程度下降,沿面闪络电压最高可提升19.37%。EP的绝缘性能得到显著提升。 展开更多
关键词 干式空心电抗器 EP/SiC 浅陷阱能级 浅陷阱密度 表面电荷 沿面闪络 绝缘性能提升
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