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利用扫描力显微镜测量表面静电势
被引量：
1
1
作者
张兆祥
赵兴钰
+1 位作者
侯士敏
薛增泉
《电子与信息学报》
EI
CSCD
北大核心
2001年第5期485-490,共6页
该文叙述了利用扫描力显微镜测量表面静电势的工作原理,并给出了不同类型扫描静电势显微镜的框图,以及利用它得到的一些实验结果。
关键词
表面静电势
扫描力显微镜
工作原理
绝缘平面测量
在线阅读
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职称材料
题名
利用扫描力显微镜测量表面静电势
被引量：
1
1
作者
张兆祥
赵兴钰
侯士敏
薛增泉
机构
北京大学电子学系
出处
《电子与信息学报》
EI
CSCD
北大核心
2001年第5期485-490,共6页
基金
国家自然科学基金(6989021)
文摘
该文叙述了利用扫描力显微镜测量表面静电势的工作原理,并给出了不同类型扫描静电势显微镜的框图,以及利用它得到的一些实验结果。
关键词
表面静电势
扫描力显微镜
工作原理
绝缘平面测量
Keywords
Surface electrostatic potential, Scanning force microscopy, Scanning electrostatic potential microscopy
分类号
TN16 [电子电信—物理电子学]
TM933 [电气工程—电力电子与电力传动]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
利用扫描力显微镜测量表面静电势
张兆祥
赵兴钰
侯士敏
薛增泉
《电子与信息学报》
EI
CSCD
北大核心
2001
1
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