为了保证Nd:YAG薄片激光器的高功率、高光束质量,需解决薄片增益介质封装后的均匀散热、低波前畸变等关键问题。分析了封装过程中薄片增益介质的热应力,模拟了连接界面无缺陷条件下薄片增益介质的热分布,对封装工艺技术进行改进。优化...为了保证Nd:YAG薄片激光器的高功率、高光束质量,需解决薄片增益介质封装后的均匀散热、低波前畸变等关键问题。分析了封装过程中薄片增益介质的热应力,模拟了连接界面无缺陷条件下薄片增益介质的热分布,对封装工艺技术进行改进。优化的封装技术将薄片激光增益介质与微通道冷却器连接在一起,采用超声扫描显微镜、激光干涉仪对薄片激光器的焊接界面与增益介质表面面形进行测试。结果表明:该封装技术实现了直径Φ80 mm的大口径YAG薄片与冷却器焊料层均匀、无空洞的界面连接,同时减小了焊接后薄片的波前畸变,Φ60 mm口径内面形畸变PV值小于1μm,均方根RMS值小于0.15μm。该技术封装的单模块Nd:YAG薄片激光器输出功率达到2.3 k W。展开更多
TN364.2 99063806雪崩光电二极管在线性测量中的应用=Applicationof avalanche photodiodes to linear measurement[刊,中]/王茜倩,刘敬海,孙志勇(北京理工大学光电工程系.北京(100081))∥计量技术.—1998,(11).—34—37讨论影响用作探...TN364.2 99063806雪崩光电二极管在线性测量中的应用=Applicationof avalanche photodiodes to linear measurement[刊,中]/王茜倩,刘敬海,孙志勇(北京理工大学光电工程系.北京(100081))∥计量技术.—1998,(11).—34—37讨论影响用作探测器的雪崩光电二极管响应度恒定的因素,在此基础上提出了两种保持响应度恒定的方法:即恒温恒压法和偏置电压温度补偿法,并进行了实验验证。图6参4(严寒)展开更多
基金The National Basic Research Program of China(Nos.J312013A001,JSJC2013210B021)the National High Technology Research and Development Program of China(No.2015AA123702)
文摘为了保证Nd:YAG薄片激光器的高功率、高光束质量,需解决薄片增益介质封装后的均匀散热、低波前畸变等关键问题。分析了封装过程中薄片增益介质的热应力,模拟了连接界面无缺陷条件下薄片增益介质的热分布,对封装工艺技术进行改进。优化的封装技术将薄片激光增益介质与微通道冷却器连接在一起,采用超声扫描显微镜、激光干涉仪对薄片激光器的焊接界面与增益介质表面面形进行测试。结果表明:该封装技术实现了直径Φ80 mm的大口径YAG薄片与冷却器焊料层均匀、无空洞的界面连接,同时减小了焊接后薄片的波前畸变,Φ60 mm口径内面形畸变PV值小于1μm,均方根RMS值小于0.15μm。该技术封装的单模块Nd:YAG薄片激光器输出功率达到2.3 k W。
文摘TN364.2 99063806雪崩光电二极管在线性测量中的应用=Applicationof avalanche photodiodes to linear measurement[刊,中]/王茜倩,刘敬海,孙志勇(北京理工大学光电工程系.北京(100081))∥计量技术.—1998,(11).—34—37讨论影响用作探测器的雪崩光电二极管响应度恒定的因素,在此基础上提出了两种保持响应度恒定的方法:即恒温恒压法和偏置电压温度补偿法,并进行了实验验证。图6参4(严寒)
