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检验半导体分立器件 怎样运用结构相似性程序(续完)
1
作者
蔡仁明
《电子标准化与质量》
1998年第4期15-16,共2页
检验半导体分立器件怎样运用结构相似性程序(续完)电子部四所(100007)蔡仁明(上接1998年第3期第21页)五、坚持自愿和确认相结合的原则符合结构相似性元器件要求的元器件型号是否组合在一起进行抽样检验,完全由承制...
检验半导体分立器件怎样运用结构相似性程序(续完)电子部四所(100007)蔡仁明(上接1998年第3期第21页)五、坚持自愿和确认相结合的原则符合结构相似性元器件要求的元器件型号是否组合在一起进行抽样检验,完全由承制单位自行决定。但其确定组合的产品型...
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关键词
半导体分立
器件
结构相似性器件
检验
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题名
检验半导体分立器件 怎样运用结构相似性程序(续完)
1
作者
蔡仁明
机构
电子部四所
出处
《电子标准化与质量》
1998年第4期15-16,共2页
文摘
检验半导体分立器件怎样运用结构相似性程序(续完)电子部四所(100007)蔡仁明(上接1998年第3期第21页)五、坚持自愿和确认相结合的原则符合结构相似性元器件要求的元器件型号是否组合在一起进行抽样检验,完全由承制单位自行决定。但其确定组合的产品型...
关键词
半导体分立
器件
结构相似性器件
检验
分类号
TN303 [电子电信—物理电子学]
TN307 [电子电信—物理电子学]
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作者
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1
检验半导体分立器件 怎样运用结构相似性程序(续完)
蔡仁明
《电子标准化与质量》
1998
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